半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第六篇：微处理器空白详细规范 编制说明.docx

《半导体器件集成电路第2-6部分：数字集成电路微处理器空白详细规范》（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1、任务来源

本标准是根据全国集成电路标准化技术委员会（SAC/TC599）(原全国半导体器件标准化技术委员会)下达的《国家标准修订项目任务书》，对《半导体集成电路微处理器空白详细规范》(GB7509-1987)标准进行修订，计划代号：T-339，此次修订要求等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC60748-2-6:1991（QC790110）《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第6篇微处理器空白详细规范》（英文版），主要承办单位为中国电子科技集团公司第四十七研究所。

2、制定背景

随着信息时代的到来，网络通信、信息安全和信息家电产品将越来越普及，而微处理器正是所有这些信息产品中必不可少的部件。集成电路产业是近几年国家大力扶植和重点发展的战略科技领域，是信息产业和人工智能的基础和载体。集成电路对于我国经济发展和自立自强具有举足轻重的作用，可以说离开高水平、高质量的以集成电路为代表的高性能电子元器件，工业和国防现代化就是空中楼阁。2020年国务院发布的《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》中强调国家大力培育集成电路企业，加强集成电路专业建立。

国家标准局于1987年发布了《半导体集成电路微处理器空白详细规范》，此标准是等效采用国际标准IEC60748-2-6制定的。随着时间的推移，原标准已不能适应形势发展的需要，需对该标准进行修订。为适应形势发展的需要，该标准的修订采取等同采用国际标准的方式进行，以实现与国际标准接轨，促进国际间的交流。该标准的修订，可以为我国微处理器的发展提供更好的支撑。

3、工作过程

2023.12.1-2024.8.31

2024.9.1-2024.11.30

2024.12.1-2025.1.31

2025.2.1-2025.3.31

起草阶段；

征求意见阶段；送审阶段；

报批阶段。

二、国家标准编制原则、主要内容及其确定依据

1、编制原则

此次修订等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC748-2-6:1991（QC790110）《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第6篇微处理器空白详细规范》（英文版）。

我国目前现行标准为GB7509-1987《半导体集成电路微处理器空白详细规范》，但该标准制定较早，较国际标准相对内容不够详细，已不适应当前快速发展的集成电路产业需求。

2、主要内容及其确定依据

本标准给出了微处理器空白详细规范的编写格式，对极限值、工作条件、电特性、试验条件和检验要求进行了修改，增加了筛选程序、质量评定程序、结构相似性程序等。

现有标准是国家标准局于1987年发布的，现等同采用国际标准(IEC60748-2-6：1991)对其进行修订。本标准适用于微处理器，用于指导详细规范的编制。通过我所多年微处理器研制经验、国家军用标准和国际标准确定相关参数、筛选程序、质量评定程序等。

3、编制过程中解决的主要问题（做出的贡献）

等同采用国际标准(IEC60748-2-6：1991)对其进行修订，在标准中增加了IEC前言、筛选程序、质量评定程序、结构相似性程序等。

4、标准前后版本之间技术内容的对比分析

1.增加了“IEC前言”。

2.对引言按IEC60748-2-6进行了修改。

3.第1页，[5]和[6]的表述按IEC60748-2-6进行了修改；删除了GB7509-1987关于“×”的说明。

4.第2页，简要说明[6]的表述按IEC60748-2-6进行了修改。

5.对全文的章、条排列按IEC60748-2-6进行了重新编排。

6.第4章“极限值”的表述和表格按IEC60748-2-6进行了修改。

7.对GB7509-1987第5章“电工作条件和电特性”的表述和表格按IEC60748-2-6进行了修改，分成“5工作条件”和“6电特性”，删除了“电特性”表格中的“试验”栏。

8.增加了“10筛选程序(如要求)”、“11质量评定程序”和“12结

构相似性程序”。

9.GB7509-1987第10章“试验条件和检验要求”的表述和表格按IEC60748-2-6进行了修改，变为第13章“试验条件和检验要求”。

三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社会效益和生态效益

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