《GBT 4937.23-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命》必威体育精装版解.pptx

《GB/T4937.23-2023半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命》必威体育精装版解读;目录;目录;目录;目录;目录;目录;PART;标准目的

该标准旨在通过模拟高温工作环境，评估半导体器件在长时间偏置条件下的可靠性，为器件的设计、生产、筛选及可靠性检验提供依据。通过加速寿命试验，剔除早期失效产品，提高产品的整体质量和可靠性。

标准适用范围

该标准适用于各种类型的固态半导体器件，包括但不限于功率器件、二极管、分立晶体管器件以及逻辑和存储器件等。通过规定具体的试验条件、测试装置、试验流程、冷却、测试以及失效标准等技术内容，确保试验结果的准确性和可重复性。;;PART;加速寿命评估;符合国际标准;PART;国际标准对接

GB/T4937.23-2023标准在制定过程中，充分参考并采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，特别是与IEC60749-23:2011《半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命》保持了一致性，确保了我国标准与国际标准的接轨。

行业需求推动

随着半导体技术的快速发展，对半导体器件的可靠性要求日益提高。高温工作寿命试验作为评估器件长期稳定性和可靠性的重要手段，其标准的制定和完善对于提升我国半导体器件的整体质量具有重要意义。;技术创新引领

GB/T4937.23-2023标准的出台，不仅反映了半导体器件测试技术的必威体育精装版进展，还通过引入加速寿命测试等先进方法，为半导体器件的可靠性评估提供了更加科学和高效的手段，有助于推动行业技术创新和进步。

法规政策支持

国家市场监督管理总局和国家标准化管理委员会等主管部门在标准制定过程中给予了大力支持，通过政策引导和标准制定，为半导体器件行业的高质量发展提供了有力保障。同时，该标准的实施也将有助于提升我国半导体器件在国际市场上的竞争力。;PART;高温对半导体性能的影响;热应力问题;PART;;高温工作寿命试验目的与意义;PART;;试验条件设定：;持续时间

根据试验目的和加速寿命模型，设定合适的试验时间，如1000小时或更长。;;;;试验方法与步骤详解;;PART;半导体器件高温失效模式分析;;PART;温度设定与控制

高温工作寿命试验中，温度是关键参数之一。需严格按??标准设定试验温度，并确保在整个试验周期内温度波动在允许范围内。通常，试验温度会高于器件的正常工作温度，以加速老化过程。同时，需定期校准试验设备，确保温度测量的准确性。

偏置条件

偏置条件对试验结果有重要影响。需根据器件的实际工作条件，合理设定偏置电压、电流等参数。对于不同类型的器件，如功率器件、逻辑器件等，其偏置条件可能有所不同。此外，还需考虑偏置电路的设计，确保在试验过程中器件能够稳定工作。;持续时间

高温工作寿命试验的持续时间通常较长，需根据器件的预期寿命和加速因子来设定。在试验过程中，需定期检查器件的性能参数，以评估其可靠性。同时，需确保试验设备在长时间运行中的稳定性和可靠性。

冷却方式

在试验结束后，需对器件进行冷却处理。冷却方式的选择对试验结果也有一定影响。通常，可采用自然冷却或强制冷却方式。需根据器件的具体要求和试验设备的条件来选择合适的冷却方式。在冷却过程中，需确保器件不会受到额外的热应力或机械应力影响。;PART;;试验设备选择与使用指南;试验设备选择与使用指南;;;PART;高温环境下的器件可靠性评估;评估指标与标准;PART;标准中高温工作寿命要求解读;失效判据;PART;;;;;提升半导体器件高温稳定性的策略;;PART;;;数据分析方法：;失效模式分析

针对试验中出现的失效器件，深入分析其失效原因和模式，为改进设计和生产工艺提供依据。;;PART;;PART;国内外高温测试标准对比分析;测试条件与方法：;测试设备与仪器校准：;国内外高温测试标准对比分析;;PART;;;;高温试验中的安全问题及预防措施;高温试验中的安全问题及预防措施;;PART;;;;;热模拟与热仿真：;PART;材料稳定性下降

高温环境会导致许多常规封装材料性能显著下降。例如，环氧树脂等塑料封装材料在高温下易软化、变形，从而影响其保护内部芯片的能力。金属材料则可能因蠕变效应导致结构失效。

物理性能变化

高温会引起封装材料体积膨胀、形变等物理性能变化，这些变化可能破坏封装结构的完整性，导致密封失效，进而引发芯片受潮、腐蚀等问题。

电气性能劣化

高温环境还可能改变封装材料的电气性能，如电阻率、介电常数等。这些变化可能影响信号的传输质量，增加信号衰减和干扰，降低整体电路的性能。;;PART;延长半导体器件高温工作寿命的技术途径;延长半导体器件高温工作寿命的技术途径;;测试与验证方法：;;PART;;电气参数失效

器件在试验后电气参数不符合规范要求，如电压、电流、电阻等参数偏离正常值