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IPD度量

IPD度量指标定义和度量数据收集指导书

一、硬件项目

、硬件第一次投板前缺陷发现数目、硬件遗留缺陷数目

12

3、样机投板次数

4、返回率（硬件原因）

二、软件项目

5、软件发布前缺陷发现密度

6、编码缺陷发现密度

7、软件遗留缺陷密度

三、公共部分

8、硬件/软件进度偏差率

9、硬件/软件总体设计缺陷发现数目10、硬件/软件详细设计缺陷发现数目

文档齐套性

11（

1、硬件第一次样机制作完成前缺陷发现数目

【指标名称】硬件第一次样机制作完成前缺陷发现数目

【指标定义】从TR1到硬件详细设计评审，在期间发现的硬件缺陷数目【测

量对象】硬件项目组

【设置目的】反映硬件总体设计和详细设计的质量。

【统计部门】开发管理部

【统计方法】

1、交付件发现缺陷数定义：

和硬件详细设计评审时发现的非提示(包括致命，严重和一般)问

TR2(SUB-TR)

题的缺陷总数；

2、各阶段关键交付件定义：

关键交付件发现缺陷密度TR阶段

系统总体设计方案系统总体设计方案评审和检视发现的硬件缺陷数TR2目硬

件总体方案硬件总体方案评审和检视发现的缺陷数目

产品文档硬件在详细设计评审时发现的缺陷数

SUB-TR

【计算公式】

硬件第一次样机制作完成前缺陷发现数目，TR2发现的缺陷数，SUB-TR发现的

缺陷数

缺陷的严重等级分类标准参考如下表格：

严重程度发现问题的严重程度统一规定致命基本功能完全丧失

严重引起系统某一功能失效且不能简单恢复的问题;设计出现严重错误或

漏洞，如果不加修改会导致严重后果或留下质量隐患一般引起系统某一功能

失效但可简单恢复或较难重现的问题;设计中出现

的错误，如果不修改可能会导致后续的错误，但不是特别严重提示从操作或

维护的角度发现的问题或建议;属于文字上的错误或者表达

方式的问题，不修改可能会导致歧义

【计量单位】个

【指标统计时间】从TR2开始

【统计周期】月度

2、硬件遗留缺陷数目

【指标名称】硬件遗留缺陷数目

【指标定义】

【测量对象】

【设置目的】

【统计部门】

【统计方法】。

【计算公式】

【计量单位】%

【指标统计时间】

【统计周期】

3、样机投板次数

【指标名称】样机制作次数

【指标定义】在通过后到通过前累计进行的样机制作次数

TR2TR3

【测量对象】硬件项目组

【设置目的】通过制作样机的次数反映硬件总体设计和详细设计的成熟程度,

从侧面反应硬件设计水平。

【统计部门】开发管理部

【统计方法】

各阶段样机制作次数：

关键交付件制作次数TR阶段

系统总体设计方案为系统总体设计方案（硬件部分）进行的试验次

数TR2,TR3硬件总体方案为确定硬件总体设计方案进行的试验次数

产品文档为验证硬件详细设计进行的样机制作次数

【计算公式】样机制作次数,TR2,TR3进行的试验次数，样机制作次数

【计量单位】个

【指标统计时间】在通过后到通过前

TR2TR3

【统计周期】月

4、返回率（硬件原因）

【指标名称】返回率（FieldReplaceableUnitReturns,RR）【指标定义】

按照体系定义的返回产品运行时间，分成初始返回指数、一年返

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