场效应晶体管的补充I(1).pdfVIP

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半导体器件原理

Chapter8.FET的补充分析:CMOS器件设计与性能参数

一、CMOS器件设计

1.1MOSFET的等比例缩小〔8.9〕

1.2阈值电压〔8.2,S3.3,S3.5,S3.6〕

1.3有效沟道长度

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半导体器件原理

一、CMOS器件设计

1.1MOSFET的等比例缩〔8.9〕

光刻技术:短沟道导致密度速度和功率的改进

离子注入:浅或陡峭的掺杂界面或低掺杂浓度的实现

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半导体器件原理

〔1〕恒定场的等比例缩

当减小横向尺寸时,等比例缩小器件的径向

尺寸,并等比例减小外加电压,增加衬底的掺杂

浓度,以使短沟道效应得到控制。

恒场等比例缩小的根本原那么:

将器件工作电压和器件尺寸包括(横向和纵向)

缩小相同的比例,以保证电场保持不变。

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半导体器件原理

恒场等比例缩小规那么:

泊松方程的不变:等比例增加掺杂浓度

最大耗尽层宽度:等比例缩小

所有电容:等比例缩小〔正比于面积而反比于厚度〕

反型层电荷:保持不变

速度饱和效应:保持不变〔电场不变〕

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半导体器件原理

漂移电流:

等比例缩小〔单位MOSFET宽度漂移电流不变〕

单位MOSFET宽度扩散电流:等比例增加

u等比例缩小对电路参数的影响

u电路延迟等比例缩小〔正比于RC或CV/I,假设沟

道电阻保持不变,而寄生电阻可以忽略或保持不变〕

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半导体器件原理

恒场等比例缩小的最重要结论:

当器件尺寸和工作电压等比例缩小时,电路速度等

比例增加,而单个器件的功耗减小k2倍。

阈值电压:一般认为阈值电压应等比例缩小〔因工作电

压降低〕

但对硅工艺,材料的相关参数并不变化,因此Vt一般并

不缩小。

可通过衬底正偏或沟道区非均匀掺杂来调制阈值电压。

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