CSTM-低温封接玻璃粉体电阻率测试方法.docxVIP

ICSXX.XXX.XX

XXX

团 体 标 准

T/CSTMXXXXX-201X

低温封接玻璃粉体电阻率测试方法

TestmethodforvolumeresistivityofLow-temperaturesealingglasspower

(征求意见稿)

201X-XX-XX发布201X-XX-XX实施

发布中关村材料试验技术联盟

发布

T/CSTMXXXXX—2018

T/CSTMXXXXX—2020

1

I

前??言

本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国材料与试验团体标准委员会光电材料及产品领域委员会（CSTM/FC60）提出。

本文件由中国材料与试验团体标准委员会光电材料及产品领域委员会（CSTM/FC60）归口。

本文件为首次发布。

T/CSTMXXXXX—2020

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低温封接玻璃粉体电阻率测试方法

警示——使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。

范围

本文件规定了低温封接玻璃粉体电阻率测试的术语和定义、测试原理、测试仪器、样品准备、测试步骤、数据处理的方法。

本文件适用于低温封接玻璃粉体电阻率测试，其他类似材料的体电阻率测试可参照使用。

规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件。

术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

体电阻volumeresistance

RV

试样的两相对表面上所加直流电压与流过的稳态电流之比，该电流不包括试样表面的电流，在两电极间可能形成的极化忽略不计。单位以欧姆(Ω)表示。

体电阻率volumeresistivity

ρV

试样内直流电场强度与稳态电流密度之比，即单位体积内的体积电阻。单位以欧姆?米(Ω?m)表示，也可以使用(Ω?cm)表示。

原理

根据欧姆定律，被测体电阻R等于施加直流电压V除以通过的电流I。即

R=V/I (1)

式中：

R——体电阻，单位欧姆(Ω)；

V——被测样品两端施加的电压，单位伏特（V）；

I——通过被测样品的电流，单位安培（A）。

再根据电阻率公式，体电阻率ρ等于体电阻R乘以测试电极的有效面积除以试样的平均厚度。即

ρ=R×S/L (2)

式中：

ρ——体电阻率，单位欧姆?米(Ω?m)；

R——体电阻，单位欧姆(Ω)；

S——测试电极的有效面积，单位平方米（m2）；

L——被测样品的平均厚度，单位米（m）。

通过同时测量被测物体的两端的电压V和流过的电流I，计算出其电阻值；再带入测量的几何参数，计算获得体电阻率。基于被测物体两端的电压V和流过的电流I是同步变化，消除被测电压V的变化或电流Ｉ的变化对电阻和体电阻率测试值的影响。

图1体电阻率测试原理图

标引序号说明：

被保护测试电极

保护电极

③-测试电极

仪器和设备

体电阻率测试仪

体电阻率测试仪应满足以下要求：

5.1.1?电阻测量范围：0.01×104?Ω～1×1018?Ω

5.1.2?电流测量范围：2×10-4?A～1×10-16?A

5.1.3?测试电压：10?V、50?V、100?V、250V、500V、1000?V，可根据需要调整。

游标卡尺

量程：0?mm～80?mm

分度：0.02?mm

样品室

样品室含有独立的控温系统，应满足以下要求（若仅测试室温下的体电阻率，样品室可以不配置控温系统）：

5.3.1?温度范围：20℃～300?℃

5.3.2?控温精度：±0.2?℃

样品准备

称取适量的玻璃粉于成型模具中，压制成块后置于试验炉中，升温至封接温度，玻璃粉在封接温度下经排气、熔化后，制备成玻璃块；试验炉缓慢降温至室温，确保玻璃块应力足够小，可以进行切割、研磨和抛光加工。按6.2要求挑选测试样品，并按6.3进行加工。

样品内部应无肉眼可见的气泡、条纹、杂质等缺陷。

样品尺寸：长和宽为75?mm±5?mm、厚度不小于5?mm的长方体或直径Φ75?mm±5?mm的圆柱体，两端面应同盘研磨和抛光，并满足平滑、清洁、无裂纹，表面粗糙度Ra≤0.025，其余各面细磨。

样品数量不少于3个。

测试环境条件

测量时应满足下列环境条件：

温度为20?℃±2?℃；相对湿度≤60%。

测试步骤

准备

8.1.1检查环境条件是否符合第7条的要求。

8.1.2清洁样品表面，无异物残留。

8.1.3测量样品厚度，在测量