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实验四触发器参数与功能测试

一、实验目的

1.熟悉基本R-S触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能和测试方法。

2.学会正确使用触发器集成芯片。

3.掌握触发器逻辑功能的转换。

二、实验仪器及器件

1.仪器:数字电路学习机,双踪示波器

2.器件:74LS00二输入端四与非门1片

74LS74双D触发器1片

74LS112双J-K触发器1片

三、实验内容

1.基本R-S触发器逻辑功能测试:

用两个TTL与非门首尾相接构成基本R-S触发器,电路如图4.1所示。(1.根据

表4.1的顺序在Sd非、Rd非端

加信号,观察并记录R-S触发器的Q、Q非

端的状态。

(2.Sd非端接低电平,Rd非端加脉冲,记录

Q、Q非端相应的波形。

(3.Sd非端接高电平,Rd非端加脉冲,记录Q、端相应的波形。

(4.令Sd非=Rd非,Sd非端加脉冲,记录Q、Q非端相应的波形。由于Sd

非、Rd非存在着同时从0向1的变化,所以输出波形不能确定。

(5.当Sd非、Rd非都接低电平时,观察Q、Q非端的状态。当Sd非、Rd非

同时由低电平跳为高电平时,注意观察Q、Q非端的状态,重复3~5次看Q、Q非

端的状态是否相同,以正确理解“不定”状态的含义。

2.JK触发器功能测试

(1异步置位端和异步复位端的功能测试

J、K、CP端为任意状态,Sd非、Rd非分别接逻辑开关,输出Q和Q非端分

别接发光二极管。在Sd非、Rd非作用期间,任意改变J、K、CP端状态,观察输

出端状态是

(2逻辑功能测试

JK触发器的输出端Q和Q非分别接发光二极管,CP接单脉冲,J、K、Sd

非、Rd非分别接逻辑开关。按表4.2的内容观察并记录Qn+1的状态。

n

测量结果验证了JK触发器的状态表达式(状态方程。

3.D触发器功能测试

74LS74是一个双D型正边沿触发器数字电路器件,每个器件包含两个相同的、

相互独立的触发器。

(1Sd非、Rd非功能测试

n+1中。

测试结果说明Sd非、Rd非功为异步置位,复位端。即与CP和D的状态无

关。(2.逻辑功能测试

令Sd非、Rd非端为高电平,D端分别接高、低电平,CP接单脉冲,按表4.3的

n+1

测量结果验证了D触发器的延迟特性。

(3.当Sd非=Rd非=1、CP=0(或CP=1,改变D端信号,观察Qn+1的状态是否

变化。答:不变化。因为D触发器为边沿触发器,没有边沿触发,触发器的状态不会

发生变化。

(4.令Sd非=Rd非=1,将D和Q非端相连,CP加连续脉冲,用双踪示波器观察并

记录CP和Qn+1的波形。

4.触发器功能转换

(1.将JK触发器转换成D触发器、T触发器和T′触发器,测试方法自定。(2.将

D触发器转换成JK触发器、T触发器和T′触发器,测试方法自定。答:触发器的功

能转换就是将原触发器和特定的组合逻辑电路相结合,使其具有目的触发器的逻辑

功能。该组合逻辑电路的输入信号是目的触发器的输入信号,该组合逻辑电路的输

出信号是原触发器的输入信号,该组合逻辑电路的输出表达式就是原触发器的驱动

方程。因此找出合适的原触发器的驱动方程就可以实现触发器的相应转换。JK→

D:JK触发器状态方程:nnnQKQJQ+=+1,D触发器状态方程:Qn+1=D。所以,

令J=D,K=D非,就可以实现JK触发器向D触发器的转换。电路如图,表格如下,测

量并记录结果。

DJQK/Q

JK→T:因为T触发器的状态方程为:nnQTQ

⊕=+1

,所以令J=K=T,就可以实

现JK触发器向T触发器的转换。电路如图,表格如下,测量并记录