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超微粉体的形貌及结构分析

1、晶态的表征

晶态的表征最常用的方法是XRD。对于简单的晶体结构，根据粉末衍射图可以确定晶胞中的原子位置、晶胞参数以及晶胞中的原子数。高分辨率X衍射粉末（HRXRD)用于晶体结构的研究，可得到比XRD更准确的结构信息，获得有关单晶胞内相关物质的元素组成比、尺寸、原子间距及键长等超微粉体的精确结构方面的数据与信息。

2、扫描电镜

扫描电子显微镜（SEM）的原理是：聚焦电子束在样品上扫描时激发的某些物理信号（如二次电子），来调制一个同步扫描的显象管在相应位置的亮度而成像。SEM是常用的材料表面测试仪器，其放大倍数高达几十万倍。其样品的制备方法是在表面喷金，然后进行测试。

3、透射电镜

透射电子显微镜（TEM）的原理是：以高能电子（50～200keV）穿透样品，由于样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同，经过后面电磁透射的放大后，在荧光屏上显示出图像。透射电镜在加速电场100KeV下，电子的波长3.7μm。TEM分辨率高达0.3nm，晶格分辨率达0.1～0.2nm。

4、扫描探针显微镜

扫描探针显微镜（SPM)以扫描隧道电子显微镜（STM)、原子力显微镜（AFM)、扫描显微镜（SFM)、弹道电子发射显微镜（BEEM)、扫描近场光学显微镜（SNOM)等新型系列扫描探针显微镜为主要实验技术，利用样品与探针的相互作用在纳米级甚至原子级水平上研究物质表面的原子和分子的几何结构以及与电子行为有关的性质。