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集成电路工艺试题附答案
单选题(总共100题)
1.(1分)在外观检查中发现料管破损,应()。(1分)
A、继续使用该料管
B、及时更换料管
C、对破损部位进行修补
D、视情况而定
答案:B
解析:?料管破损时要进行料管更换,否则可能会丢失芯片。
2.(1分)用平移式分选机设备进行芯片检测时,压测手臂从入料梭上吸取芯片转移到测试座上进行操作描述的是()环节。(1分)
A、分选
B、上料
C、测试
D、外观检查
答案:C
解析:?暂无解析
3.(1分)通过监控某一特定谱峰或波长,在预期的刻蚀终点可探测到对应的数据的方法是()。(1分)
A、发射光谱法
B、干涉测量法
C、质谱分析法
D
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