集成电路工艺试题附答案.doc

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集成电路工艺试题附答案

单选题(总共100题)

1.(1分)在外观检查中发现料管破损,应()。(1分)

A、继续使用该料管

B、及时更换料管

C、对破损部位进行修补

D、视情况而定

答案:B

解析:?料管破损时要进行料管更换,否则可能会丢失芯片。

2.(1分)用平移式分选机设备进行芯片检测时,压测手臂从入料梭上吸取芯片转移到测试座上进行操作描述的是()环节。(1分)

A、分选

B、上料

C、测试

D、外观检查

答案:C

解析:?暂无解析

3.(1分)通过监控某一特定谱峰或波长,在预期的刻蚀终点可探测到对应的数据的方法是()。(1分)

A、发射光谱法

B、干涉测量法

C、质谱分析法

D

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