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E1研发阶段电磁敏感度测试套件LANGER
EMV-Technik
抗扰度研发系统E1
干扰电流注入,
场源,含有磁场源和电场源
磁场测量
信号监测
新标杆:E1
用于评估PCB板上波群(脉冲)和静电故障
新型干扰抗扰度(EMS)测试:助您在研发阶段完成新研制产品的故障定位!
大体来说,在与EN61000-4-4(脉冲)标基于四种测量手段进行以下故障检测:
准合规性测试期间,需要进行非兼容性检
测,不仅仅只是评估结构复杂的滤波和屏蔽1.通过SGZ21高压脉冲发生器直接注入PCB板,分析干扰电流路径;
2.通过场源,定位故障;
材料。
3.通过磁脉冲场测量,跟踪干扰电流;
E1是一款研发阶段用的新型、低成本的
抗干扰度测试系统。4.从PCB板上监测苛刻的逻辑信号。
使用E1抗干扰研发系统,能定位电磁不兼故障系统隔离查找:
容的薄弱点。
E1套件含各种各样的工具,使用四种测量-在标准合规性测试期间,分析干扰电流路径、复制要产生的故障;
手段,来确保能检测出大多数复杂的干扰抗-通过场源,定位敏感的导线和元件连接点;
扰度故障。-监测苛刻的逻辑信号和测量磁干扰场。
E1抗扰度研发系统配置尺寸:420x330x75mm
S2
1
P1
2
3
4
SGZ21脉冲群/静电发生器LANGER
EMV-Technik
SGZ21波群突发发生器:产生零电势脉冲状干扰信号
技术指标
脉冲参数:光学输入:
上升时间:2ns光纤:2.2mm
波尾时间:10ns最大频率:5MHz
峰值:0~1500V最小脉冲宽度:100ns
尺寸(LxWxH):(154x100x62)mm计数器:
电源电压:12V/200mA显示屏:6位
(门电路)选通时间:1s
性能特点
通过配备的各种测试装置,
SGZ21采用电气隔离的对称输
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