QHESR-PE-029-液晶触摸一体机可靠性实验报告.xlsxVIP

液晶触摸一体机可靠性试验报告

报告编号：

样品名称 型号/料号 样品数量

客户/供应商 实验/测试日期

样品来源 □研发样机□试产样机□零部件□技术/工程部□品质部采购部

样品说明 试验样品共（3）台（件）；编号：1号、2号、3号；试验前经验证结构及功能完好，功能运行正常。

实验目的 验证样品在企业技术条件要求下工作的电气性能可靠性

测试平台 □WINDOWS7(64bit32bit)□XP□linux□MAC□其他

测试类别 阶段性测试 □材料附件半成品□成品（展会投标演示□其他验证

验收测试 □结构验收□硬件验收□软件验收

改善测试 □结构更改□硬件更改□软件更改

实验依据 高低温试验箱技术条件国家标准：GB/T10592-2008代替GB/T10592-1989

高温试验国家标准：GB/T2423.2-2008

低温试验国家标准：GB/T2423.1-2008

恒定湿热试验国家标准：GB/T2423.3-2006

高低温循环试验国家标准：GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993

包装振动试验国家标准：GB/T4857.23-2012代替GB/T4857.23-2003

跌落试验国家标准：GB/T4857.5-1992

企业标准：Q/SDV001-2016代替Q/SDV001-2013液晶触摸一体机企业标准

试验项目及概况 根据试验申请要求和相关技术要求对样品进行了■1■2■3■4■5■6■7■8■9■10■11■12■13■14■15■16■17■18■19■20■21■22项试验，所测项目符合企业技术要求。

编号 实验项目 试验标准及技术要求 实验结果 备注

1 高温负荷实验 1.技术要求：样品温度为40℃时应能持续正常工作8H；2.样品应在不包装、不通电和正常工作位置的状态下（电源开关置于接通位置）放入具有室温的试验箱内，样品应尽可能地放在试验箱中央，以使样品的任何部分和箱壁之间有尽可能多的空间；3.箱温按0.7～1℃/min的平均速率（指每5min的平均值）上升，逐渐升温至40±2℃。当样品达到温度稳定后，接通电源持续工作8H；4.当样机在40℃的环境下检测被测样机外观结构均为正常，另外检测的结果应符合Q/SDV001-2016代替Q/SDV001-2013液晶触摸一体机企业测试标准。

2 高温存储实验 1.技术要求：样品在温度为55℃时搁置10H；2.样品应做好正经包装和不通电的状态下放入具有室温的试验箱内；3.箱温按0.7～1℃/min的平均速率上升，逐渐升温至55±2℃。当样品达到温度稳定后，搁置10H；4.箱温按0.7～1℃/min的平均速率降低至正常试验大气条件范围内的某一数值后进行拆包检测，检测结果应符合Q/SDV001-2016代替Q/SDV001-2013液晶触摸一体机企业测试标准。

3 低温负荷实验 1.技术要求：样品在温度为-5℃的环境下连续工作运行4H；2.样品应在不包装、在正常工作位置的状态（电源开关置于接通位置），放入具有室温的试验箱内。样品应尽可能地放在试验箱中央，以使样品的任何部分和箱壁之间有尽可能多的空间；3.试验箱温度按0.7～1℃/min的平均速率下降至（-5±2）℃，当样品达到温度稳定后，然后接通电源持续工作4H；4.在温度为-5℃的环境下对样机的功能进行检测，检测的结果应符合Q/SDV001-2016代替Q/SDV001-2013液晶触摸一体机企业测试标准。

4 低温存储实验 1.技术要求：样品在温度为-20℃时搁置12H，恢复常温后检测样机结果应该符合Q/SDV001-2016代替Q/SDV001-2013液晶触摸一体机企业测试标准。2