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电子质量2021年第03期(总第408期)
薄膜铁磁材料特征参数扫场/扫频测试方法探讨
StudyonField/FrequencySweepMeasurementforParametersofThinFilmFerromagnetic
Materials
赵敏,梁琼崇(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)
ZhaoMin,LiangQiong-chong(TheFifthElectronicsResearchInstituteofMinistryof
InformationIndustry,GuangdongGuangzhou510610)
:,基于
摘要微波薄膜铁磁材料主要参数是共振磁场强度和共振线宽VNA的扫场测试可直接得到共振磁
场强度和共振线宽,而且测量精度高,可测量薄膜方向性,但耗时长。而扫频测试虽然只能得到谐振点频率
和频率宽度,且精度低,但速度极快。通过理论论证和实验分析,探讨了一种扫场和扫频相结合的新技术来
解决这个矛盾。首先估算铁磁材料的另两个特征参数旋磁比酌和饱和磁化强度M,然后由扫频频宽来估算s
共振线宽。实验表明,扫频估算线宽与扫场测量线宽的差异在6%以下。
:;扫场测试;扫频测试
关键词薄膜铁磁材料;共振参数;共振线宽
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中图分类号O484.43文献标识码:A文章编号1003-0107(2021)03-0046-04
Abstract:Themainparametersofmicrowavethinfilmferromagneticmaterialsaretheresonancemagnetic
fieldintensityandlinewidth.Theycanbedirectlyobtainedbyfield-scanningtestbasedonVNAwithhigh
accuracy,andthedirectivitycanbemeasured,butmeasurementtimeisverylong.Althoughthefrequency-
scanningtestcangettheresonantfrequencyandfrequencywidth,andtheaccuracyislow,butthespeedis
extremelyfast.Basedontheoreticalanalysisandexperimentalverification,thispaperdiscussesanewtechnique
combiningfield-scanningandfrequency-scanningtosolvethiscontradiction.Firstly,twocharacteristic
parameters,thegyromagneticratioγandthesaturationmagnetizationintensityM,wereestimated.Thenthes
resonancelinewidthisestimatedfromfrequencywidth.Thetestsshowthatthedifferenceislessthan6%.
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