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气流场强度对直流磁控溅射ZAO薄膜性能的影响/殷胜东等・135・
气流场强度对直流磁控溅射ZAO薄膜性能的影响
殷胜东,马勇,靳铁良
(1重庆师范大学物理学与信息技术学院,重庆400047;2平顶山学院物理学与电气信息工程学院,平顶山467002)
摘要用含2Al的Zn/A1合金靶材,在不同气流场强度下使用直流反应磁控溅射法在玻璃衬底上制备了
ZAO(ZnO:AI)透明导电薄膜样品。定义气流场强度等于总气流量除以总气压。结果表明:气流场强度的大小对
ZAO薄膜的表面形貌和电导率有较大影响,对可见光的透射率影响不大。在Ar气压强为0.3Pa,流量为22sccm,02
气压强为0.0SPa,流量为10sccm,气流场强度约为84sccm/Pa时制备ZAO薄膜的最低电阻率为4.2×1OQ・cm,可
见光透射率为9O%。
关键词ZAO薄膜直流反应磁控溅射气流场强度电导率透射率
中图分类号:0484文献标识码:A
EffectofCurrentFieldIntensityonPerformanceofZAOThinFilms
DepositedbyDCMagnetronSputtering
YINShengdong,MAYong,JINTieliang2
(1SchoolofPhysics&InformationTechnology,ChongqingNormalUniversity,Chongqing400047;
2CollegeofPhysics&Electric—InfomrationEngineering。PingdingshanUniversity,Pingdingshan467002)
AbstractZAO(ZnO:A1)transparentconductivefimlsarepreparedbyIX;magnetronreactivesputteringof
analloytarget(98wtZn-2wtA1)onglasssubstrates.Inthispaper,istdefinedthatthecurrentfieldintensityequals
allgasfluxdividedbyallgaspressure.Theinfluenceofcurrentfieldintensityonthemicrostructures,opticalandelec—
tricalpropertiesofZAOfilmsisstudied.Theresultsshowthatthecurrentfieldintensityisadominantfactorforvaria—
blemicrostrueturesandelectricalpropertiesoftheZAOthinfilms.ThelowestresistivityiS4.2×10Q・cmandvisi—
bletransmittanceiS90ontheCOnditionthatcurrentfieldintensityis84sccm/Pawhichresultsfromthesituationthat
thegaspressuresof02andArare0.08Paand0.3Parespectively,and
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