Multisim14电子电路仿真方法和样例 .pdfVIP

Multisim14电⼦电路仿真⽅法和样例

Multisim14电⼦电路仿真⽅法和样例

2019年9⽉

本⼿册基于Multisim14仿真环境，从最基本的仿真电路图的建⽴开始，结合实际的例⼦，对模拟和数字电路中常⽤的测试⽅法进⾏介

绍。这些应⽤⽰例包括：常⽤半导体器件特性曲线的测试、放⼤电路静态⼯作点和动态参数的测试、电压传输特性的测试、波形上升时

间的测试、逻辑函数的转换与化简、逻辑分析仪的使⽤⽅法等。

此外，本⼿册侧重于测试⽅法的介绍，仅对主要步骤进⾏说明，如碰到更细节的问题，可参阅《Multisim14教学版使⽤说明书》或其它

帮助⽂档。

1.MULTISIM14主界⾯简介(4)

2.仿真电路图的建⽴(4)

3.常⽤半导体器件特性曲线的测试⽅法(5)

3.1晶体三极管特性曲线的测试(5)

3.1.1IV分析仪测试⽅法(5)

3.1.2直流扫描分析⽅法(5)

3.2结型场效应管特性曲线的测试(6)

3.2.1IV分析仪测试⽅法(6)

3.2.2直流扫描分析⽅法(7)

3.3⼆极管、稳压管伏安特性曲线的测试(7)

4.放⼤电路静态⼯作点的测试⽅法(7)

4.1虚拟仪器测试⽅法(7)

4.2静态⼯作点分析⽅法(8)

5.放⼤电路动态参数的测试⽅法(8)

5.1电压放⼤倍数的测试(8)

5.1.1瞬态分析测试⽅法(8)

5.1.2虚拟仪器测试⽅法(9)

5.2输⼊电阻的测试(9)

5.3输出电阻的测试(10)

5.4频率响应的测试(10)

5.4.1交流分析⽅法(10)

5.4.2波特图仪测试⽅法(10)

6.电压传输特性的测试⽅法(11)

7.上升时间的测试⽅法(12)

8.逻辑函数的转换与化简(13)

8.1逻辑函数转换为真值表(13)

8.2真值表转换为逻辑函数(13)

9.逻辑分析仪的使⽤⽅法(14)

图2.1⽰例电路

1.Multisim14主界⾯简介

运⾏Multisim14，⾃动进⼊电路图编辑界⾯。当前电路图的缺省命名为“Design1”，在保存⽂件时可以选择存放路径并重新命名。

Multisim14主界⾯如图1.1所⽰。

图1.1Multisim14⽤户界⾯

2.仿真电路图的建⽴

下⾯以单管放⼤电路为例，介绍建⽴电路的步骤。其中三极管选⽤实际器件MRF9011LT1_A，其它元件都选⽤虚拟器件。

步骤⼀：放置元件

从元件库中取出图2.1所⽰各元件，调整元件⽅向

后放置在图中适合位置。分别修改信号源、直流电压

源、电阻和电容的属性，包括元件名称和取值。

步骤⼆：连接线路

⽤⿏标左键单击元件管脚，光标变为，拖动⿏

标⾄⽬标元件管脚再次单击，即可完成连接。在连线

过程中按ESC或单击右键可终⽌连接。如果需要断开

已连好的连线并移动⾄其它位置，将光标放在要断开

的位置，此时光标变为如图2.2所⽰形状。单击后光标

变为，移动光标⾄新的管脚连接位置，再次单击完

成连线。

在Multisim中，默认选项不显⽰电路的节点号，如果需要显⽰，则点击⼯具栏中Options，选定sheetproperties即弹出图2.3所⽰界

⾯，选中Netnames下的Showall（简述为OptionsàsheetpropertiesàNetnamesàShowall，以下均⽤简述⽅法表述），即可在电

路图中显⽰出各个节点号。

图2.2移动连线

图2.3显⽰电路节点号

3.常⽤半导体器件特性曲线的测试⽅法

半导体器件的特性曲线可以通过IV分析仪和直流扫描分析这两种⽅法得到。

3.1晶体三极管特性曲线的测试3.1.1IV分析仪测试⽅法

IV分析仪（IV-Analysis）可⽤于分析半导体器件的输出特性

曲线。以NPN型晶体管2N2222A为例，从仪表⼯具栏中单击选取

IV分析仪，双击该图标打开显⽰⾯板。在Components下拉菜单中

选择BJTNPN选项，⾯板右下⽅则显⽰晶体管的b、e和c三极连

接顺序的⽰意图。建⽴测试电路如图3.1所⽰。点击⾯板上的Sim

Param按钮，设定UCE（Vce）和IB（Ib）扫描范围分别为0~12V

和0~40µA，如图3.2所⽰。点击Simulate按钮进⾏仿真，得到晶

体管的输出特性曲线如图3.3所⽰。⾯板下⽅显⽰光标所在位置的

某条曲线iB、uCE及iC的值，单击其它曲线可显⽰相应数值。

3.1.2直流扫描分析⽅法

图3.2设置扫描参数图3.3晶体三极