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TohoSpec3100光学干涉法薄膜测厚仪
1.0仪器功能:
TohoSpec3100膜厚仪利用光学干涉法量测薄膜厚度,可快速量测并适用于量测多
层膜。如下图,通过物镜向参照测量对象射入垂直光线,其反射光线将被分散为各
种波长。采集各波长的数据以建立数据库,形成测量模型。每当测量时,将测量
結果的光谱与数据库的光谱进行对比,取出最近似的数据作为测量结果输出。
2.0样品材料要求
样品载物台最大可放置6寸硅片;小样品只要可放在载物台亦可。
3.0设备培训和参考资料
3.1本设备需经过
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