GEM）系列：E30_（8）.GEM系列：E30性能测试与调优.docx

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性能测试与调优

性能测试的必要性

在半导体制造设备控制系统（SECS/GEM）系列中，性能测试是确保系统稳定性和高效性的关键步骤。性能测试的目的在于验证系统在高负载、高并发等极端条件下的表现，识别和解决潜在的性能瓶颈，确保系统能够满足生产环境的需求。性能测试通常包括以下几个方面：

响应时间：测试系统在处理请求时的响应速度。

吞吐量：测试系统在单位时间内处理的请求数量。

资源利用率：测试系统在运行过程中的CPU、内存、网络等资源的使用情况。

稳定性：测试系统在长时间运行下的表现，确保不会出现崩溃或性能下降的情况。

常见的性能测试工具

在进行性能测试时，选择