电子元器件综合标准(必威体育精装版) .pdfVIP

电子元器件综合标准(必威体育精装版)

G4210《GB/T4210-2001电工术语:电子设备用机电元件》

G5597《GB/T5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法》

G16523《GB/T16523-1996圆形石英玻璃光掩模基板规范》

G16524《GB/T16524-1996光掩对准标记规范》

G16525《GB/T16525-1996塑料有引线片式载体封装引线框架规范》

G16526《GB/T16526-1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法》

G16527《GB/T16527-1996硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范》

G16595《GB/T16595-1996晶片通用网格规范》

G16596《GB/T16596-1996确定晶片坐标系规范》

G16879《GB/T16879-1997掩模嚗光系统精密度和准确度的表示准则》

G16880《GB/T16880-1997光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则》

G17564.1《GB/T17564.1-2005电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式:

定义-原则和方法》

G17564.2《GB/T17564.2-2005电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模

式:EXPRESS字典模式》

G17564.3《GB/T17564.3-1999电气元器件的标准数据元素:维护和确认的程序》

G17564.4《GB/T17564.4-2001电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模

式:IEC标准数据元素类型、元器件类别和项的基准集》

G17564.5《GB/T17564.5-2007电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模

式:EXPRESS字典模式扩展》

G17866《GB/T17866-1999掩摸缺陷检查灵敏度分析所用的特制缺陷掩摸和评估》

G18501.1《GB/T18501.1-2001有质量评定的直流和低频模拟及处理用连接器：

总规范》

G18501.2《GB/T18501.2-2001有质量评定的圆形连接器分规范》

G19405.1《GB/T19405.1-2003表面安装技术:表面安装元器件规范的标准方法》

G19405.2《GB/T19405.2-2003表面安装技术:表面安装元器件的运输和贮存条件

-应用指南》

G19921《GB/T19921-2005硅抛光片表面颗粒测试方法》

G19922《GB/T19922-2005硅片局部平整度非接触式标准测试方法》

G21194《GB/T21194-2007通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求》

G22586《GB/T22586-2008高温超导薄膜微波表面电阻测试》

G22587《GB/T22587-2008基体与超导体体积比测量Cu/Nb-Ti复合超导体铜-

超[体积]比的测量》

GJ35《GJB/Z35-1993元器件降额准则》

GJ221《GJB/Z221-2005军用密封元器件检漏方法实施指南》

GJ360B《GJB360B-2009电子及电气元件试验方法》

GJ546B《GJB546B-2011Z电子元器件质量保证大纲》

GJ548B《GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序》

GJ978《GJB978A-1997单列、双列插入式电子元器件插座总规范》

GJ2649《GJB2649-1996军用电子元件失效率抽样方案和程序》

GJ2650《GJB2650-1996微波元器件性能测试方法》

GJ2823《GJB2823-1997电子元器件产品出厂平均质量水平评定方法》

GJ3014《GJB3014-1997电子元器件统计过程控制体系》

GJ3243《GJB/Z3243-1998电子元器件表面安装要求》

GJ3404《GJB3404-1998电子元器件选用管理要求》

GJ4027A《GJB4027A-2006Z军用电子元器件破坏性物理分析方法》

GJ4041《GJB4041-2000航天用电子元器件质量控制要求》

GJ5397《GJB5397-2005高牢固度吸气热子元件规范》

GJ5422Z《GJB5422-2005Z军用电子元器件γ射线累积剂量效应测量方法》

GJ5438Z《GJB5438-2005Z半导体光电子器件外壳通用规范》

GJ5914K《GJB5914-2006K各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》

GJ7243Z《GJB7243-20