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电源适配器8D分析及改善报告
深圳市XXX有限公司
XXXTechnologyCo.,Ltd
客户投诉8D报告编号ReportNO:J
D2:问题描述ProblemDescription
12V/1.5A国标,市场上退回1PCS电源损坏.胶壳已裂开.电解
电容鼓包,输入部分线路损坏.
D3:应急措施ContainmentAction(s)
可插入文本、附件(文件、无图片等)InsertTextand/or
attachments(documents,pictures,etc.)
测试产品有C5电解电容、F1保险丝、NTC热敏电阻、BD1桥硅
元件损坏.
产品损坏的有三种原因:
一.产品雷击时,浪涌电压造成损坏.
产品雷击测试,差模4KV,在不同的相位下(0、90、180、270
相位)各5次测试,测试结果输出正常。通过此测试,说明产品可以
承受4KV的雷击电压。
二.产品内部有锡渣短路,造成损坏.仔细检查产品锡面及元件
面,没有发现有残留锡珠、锡渣、元件脚等异物.通过各个焊点检查,
没有发现因异物短路,打火的痕迹.此点可以排除产品内有金属物造
成损坏.三.输入端元件知路,造成损坏.
将主IC脚、ZD1、D1、D2、变压器脚分别短路,开机测试,产
品不工作或元件FUSE、BD、NTC损坏,但电解电容C5并没有损
坏.与市场退回不一致.
四.将C5电容,本体向上搬起,再按平,通电测试,约15分种
后,产品损坏。电容本体C5鼓包,开阀。
损坏元件:C5、F1、NTC热敏电阻、BD1,与退回的不良品损坏
的情景一致.
五.通过以上试验,电容失效才会发生同样现状.
1.测量电解电容容量,合格品13UF以上,此颗电容仅8.5nF,说明
电容容量已失效.
2.将电容外表皮去除后,电容负极引脚与阴极铝箔已脱离如左图
一所示.进一步铝箔展开,发现阴极导针处铝箔受损.电容导针受外
力影响,有拉动后留下的皱纹.皱纹刺破阴极与阳极间的绝缘纸,引
脚处阴极铝箔与阳极铝箔间短路,通电瞬间打火,电容防爆开,导针
断裂。此不良为作业性不良,与原材料和设计没有关联。
退回不良电容:
验证不良电容:
五.电解电容C5受损的原因:检查产线制程作业工序.
1.插件:此元件为手插件,自由插于孔内.可排除插件时外力损
坏.
2.剪脚:剪脚时,剪脚方式不正确,有可能造成元件脚受损.此
元件为短脚,不用剪脚.
3.元件浮高压件:电容C5浮高,人员直接加锡,压件.有可能造
成元件脚受损.
4.分板:此产品为8联片板,分板边用治具,实际模拟不会伤到C
5元件.
5.堆机:生产过程若工位不平衡,造成产品堆积在一起.堆积有
可能造成元件脚受损.
不良流出原因:
由于此电容导针处受到外力作用下,轻微受损.阴极与阳极铝箔
间的绝缘纸有一点破坏,厂内在老化及测试时两极铝箔还是有绝缘
的.老化工序是剔除不合格产品、同时也在修补产品氧化膜的.
消费者在使用时,产品开机瞬间一个较大的浪涌,击穿绝缘纸,
造成正负极间短路.
若阴极与阳极铝箔若是完全短路,在厂内老化测试是可以测试出
来的.
外壳开裂的原因:
电容的作用是用来充放电,在充放电过程中,会导致电容温度升
高.开机瞬间,浪涌电压过来,此颗电容阴极与阳极间铝箔边缘受损,
不能长时间稳定工作于高温之下,而高温……热胀冷缩、分子热运动,
导致腔壳内压力暴增,泄压口破裂泄压,就会听到“啪”的爆开声了.
由于此产品有一个美工线,电容旁边的插脚塑胶块是单独的,镶
在上下盖内,没有与上下盖超声熔接在一起.电容爆开的同时,将胶
壳掀开.
责任人:完成日期:
D6:效果验证EffectivenessVerification
将产品上损坏的元件C5、F1
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