光纤熔接质量控制及OPGW故障分析 .pdf

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第２９卷第１８８期电力系统通信Ｖｏ１．２９ＮＯ．１８８

１０・２００８年６月１０日ＴｅｌｅｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒＥｌｅｃｔｒｉｃＰｏｗｅｒＳｙｓｔｅｍＪｕｎ．１０，２００８

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光纤熔接质量控制及ＯＰＧＷ故障分析

张国志，何晓东

（河南送变电建设公司，河南郑州４５００５１）

摘要：基于光纤测量原理并结合施工及运行维护经验，文章从光纤的衰耗曲线出发，分析总结了

各种光纤故障反映在测量曲线上的特征，从而为判断光纤熔接的质量和故障定位提供了实用判

据，这些方法在施工、验收和维护３个环节上保障了ＯＰＧＷ的安全运行。

关键词：ＯＰＧＷ；ＯＴＤＲ；衰耗；后向散射系数

中图分类号：ＴＮ９１３．３３文献标志码：Ｂ文章编号：１００５—７６４１（２００８）０６—００１０—０３

０引言２熔接质量的控制

敷设ＯＰＧＷ时，纤芯的熔接是通过光纤熔接光缆熔接时，由于待熔接的两侧光纤可能存在

机来完成的，其熔接点附近的光学特性及介质均匀材质的差异，光纤的散射系数可能不同。如果连接

性会发生改变，接头处会出现较大的衰耗。熔接机的２条光纤的后向散射系数不同，就很有可能在

所显示的接头损耗只能作为参考，真正的损耗值必ＯＴＤＲ上出现被测光纤接头光功率发生增益的现

须用ＯＴＤＲ（光时域反射仪）来测量。象，这是由于连接点的后端散射系数大于前端散射

本文主要探讨控制ＯＰＧＷ光缆熔接质量并依系数，导致连接点后端反射回来的光功率反而高于

据光纤衰耗曲线分析故障的方法。前端反射回的光功率的缘故，所以，应采用双向测

试平均值。假设正向测量时衰耗值有８Ａ的伪增

１ＯＴＤＲ测量原理

益，那么反向测量时衰耗值则会有８Ａ的伪衰耗，

由于制作工艺所限，光纤介质并不是绝对均匀平均的结果将消去８Ａ的影响，得到实际的接头衰

的。当光线入射到不均匀的介质中，介质就因折射耗值。图１中有２个接头，１个表现为伪增益，另１

率不均匀而产生散射光。即使是均匀介质，由于介个表现为伪衰耗。若要在１个测量点得到双向值，

质中分子质点不停的热运动，破坏了分子间固定的可在测量点和熔接点前方接头点做同方向不同纤

位置关系，光在光纤内传输的过程中，就会产生一芯的光纤熔接环回。

种称为瑞利散射的分子散射，散射光的强度与入射

光的频率（或波长）有关。ＯＴＤＲ正是利用光纤的

后向瑞利散射来测量损耗值。

首先，ＯＴＤＲ发射光脉冲到光纤内，然后在

褥

ＯＴＤＲ端口接收返回的信息。当光脉冲在光纤内替

传输时，由于光纤本身的性质、连接器、接合点或弯

曲等事件而产生散射和反射，其中一部分散射和反

射会返回到ＯＴＤＲ中。根据发射信号到返回信号０距离／ｋｍ

所用的时间以及接收到的光的强度，结合光在折射

图１伪增益及伪衰耗