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中华人民共和国国家计量技术规范
JJF2174—2024
旋光仪及旋光糖量计用低透过率模拟器校准规范
CalibrationSpecificationforLowTransmittanceSimulatorsofPolarimetersandPolarimetricSaccharimetersCalibration
2024-10-19发布2025-04-19实施
国家市场监督管理总局发布
JJF2174—2024
旋光仪及旋光糖量计用
低透过率模拟器校准规范
CalibrationSpecificationforLow
TransmittanceSimulatorsofPolarimeters
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归口单位:全国物理化学计量技术委员会主要起草单位:黑龙江省计量检定测试研究院
新疆维吾尔自治区计量测试研究院辽宁省计量科学研究院
参加起草单位:黑龙江省垦区质量技术监督检验检测中心
本规范委托全国物理化学计量技术委员会负责解释
JJF2174—2024
本规范主要起草人:
丁海铭(黑龙江省计量检定测试研究院)
郭丽(新疆维吾尔自治区计量测试研究院)
陶成(辽宁省计量科学研究院)参加起草人:
于亚洲(黑龙江省计量检定测试研究院)张涛(黑龙江省计量检定测试研究院)
王玉晶(黑龙江省垦区质量技术监督检验检测中心)
JJF2174—2024
Ⅰ
目录
引言 (Ⅱ)
1范围 (1)
2引用文件 (1)
3术语 (1)
4概述 (1)
5计量特性 (1)
6校准条件 (2)
6.1环境条件 (2)
6.2测量标准及其他设备 (2)
7校准项目和校准方法 (2)
7.1校准前检查 (2)
7.2透射比 (2)
8校准结果的表达 (3)
9复校时间间隔 (4)
附录A光谱中性衰减低透过率模拟器的透射比相对偏差测量结果的不确定度
评定示例 (5)
附录B机械斩波低透过率模拟器的透射比相对偏差测量结果的不确定度
评定示例 (7)
附录C校准记录格式(参考) (10)
附录D校准证书(内页)格式 (15)
JJF2174—2024
Ⅱ
引言
JJF1071—2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001—2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规范制定工作的基础性系列规范。本规范主要参考了JJG536—2015《旋光仪及旋光糖量计》中的技术要求。
本规范为首次发布。
JJF2174—2024
1
旋光仪及旋光糖量计用低透过率模拟器校准规范
1范围
本规范适用于旋光仪及旋光糖量计检定用低透过率模拟器的校准。
2引用文件
本规范引用了下列文件:
JJG536—2015旋光仪及旋光糖量计GB/T13962—2009光学仪器术语
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其必威体育精装版版本(包括所有的修改单)适用于本规范。
3术语
3.1光切法light-sectionmethod
测定物体表面微观形状、粗糙度等的光学方法。用细缝状的光束像刀刃那样切截被测物体表面,从侧面观测在物体表面产生的切割线的形状。
[来源:GB/T13962—2009,8.21]
4概述
低透过率模拟器是用于检定旋光仪及旋光糖量计低透过率示值误差的辅助设备,常用的低透过率模拟器有光谱中性衰减低透过率模拟器、机械斩波低透过率模拟器。
光谱中性衰减低透过率模拟器使用光谱中性衰减片、机械斩波低透过率模拟器通过高速电机带动扇形缺口斩光片的旋转,对入射光光通量的衰减,来模拟检定旋光仪及旋光糖量计时的样品透过率。
5计量特性
仪
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