《汽车控制芯片电特性测试方法》.pdfVIP

ICS43.10

CCST40

团体标准

T/CSAExx－20xx

汽车控制芯片电特性测试方法

Testmethodsforelectricalcharacteristicsofautomotivecontrolchips

（报批稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

20xx-xx-xx发布20xx-xx-xx实施

中国汽车工程学会发布

T/CSAExxx—xxxx

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语1

5芯片的基本结构2

6测试条件2

6.1工作电压2

6.2测试环境2

6.3其他条件2

6.4基础参考数据3

7测试方法3

7.1管脚电特性参数测试3

7.2CPU测试6

7.3存储测试11

7.4接口测试13

附录A（资料性）电特性测试结果记录表17

I

T/CSAExxx—xxxx

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国汽车芯片产业创新战略联盟提出。

本文件由中国汽车工程学会标准化工作委员会归口。

本文件起草单位：北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、

中汽创智科技有限公司、杭州广立微电子股份有限公司、紫光同芯微电子有限公司、兆易创新科技集团

股份有限公司、小华半导体有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、基石酷联微电子技术（北京）

有限公司、上海为旌科技有限公司、深圳曦华科技有限公司、北京奕斯伟计算技术股份有限公司、西部

科学城智能网联汽车创新中心(重庆)有限公司、北京经济技术开发区国创芯联汽车芯片技术研究中心、

北京国创先进技术认证有限公司、清华大学、苏州太昊慧芯微电子有限公司、清华大学苏州汽车研究院

（相城）、中山大学、蔚来动力科技(合肥)有限公司。

本文件主要起草人：李兆麟、尹少晨、张永昌、沈费钦、林湖、白文娟、吴倩、陈赛华、陈弼梅、

刘人赫、黄钧、张腾超、韩飞、王永成、杨明、沈林柏、徐大雍、李慧德、周建华、姚晓峰、何宁、方

达龙、邹广才、刘英、李明钊、刘慧瑾、王明羽、郑四发、孙川、洪文成、杜永红。

II

T/CSAExxx-20xx

汽车控制芯片电特性测试方法

1范围

本文件描述了汽车控制芯片（以下简称为“芯片”）电特性的测试条件和测试方法。

本文件适用于汽车控制芯片电特性测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

测试向量test