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第一章目前的微电子制造技术可以分为四个方面:道耗尽型晶体管、P沟道耗尽型晶体管。
双极型制造工艺、MOS制造工艺、Bi-CMOS制造MOS场效应晶体管利用栅极电压的大小,来改变
工艺和SOI制造工艺。半导体表面感生电荷的多少,从而控制漏极电流的
双极型工艺的优缺点:(1)缺点:双极型工艺过大小。
程复杂、成本高、集成度低,在现在的超大规模集P沟道MOS晶体管与N沟道MOS晶体管同时运用
成电路中已经很少单独使用。(2)优点:双极型到一个集成电路中就构成了CMOS集成电路。
工艺速度快、较大的电流驱动能力等特点是CMOS双阱工艺CMOS器件的结构示意图
工艺所达不到的。在某些情况下,作为CMOS工艺
的补充,双极型工艺仍然被少量地使用。
双极型三极管:是双极型工艺的典型器件,由两种
载流子参与导电,由两个pn结组成,是一种电流
控制电流源器件,分为PNP和NPN两种。
PN结隔离分为三种结构:
(1)标准下埋集电极三极管(SBC)
Bi-CMOS技术是一种将CMOS器件和双极型器件
集成在同一芯片上的技术。Bi-CMOS的制作工艺主
要分为两大类:
(1)低端Bi-CMOS工艺:以CMOS工艺为基础
(2)高端Bi-CMOS工艺:以双极型工艺为基础,
(2)集电极扩散隔离三极管(CDI)可进一步分为P阱Bi-CMOS工艺和双阱Bi-CMOS
工艺。
SOI(Silicon-On-Insulator,绝缘层上覆硅)器件与体
硅器件相比,除了具备良好的抗辐射性能还具有以
下各项优点:(1)功耗低(2)工作速度快(3)
静电电容小,寄生电容小(4)可进一步提高集成
电路芯片的集成度、功能和可靠性,能在微功耗、
低电压、高温、高压等方面发挥它的优势(5)耐
(3)三重扩散三极管(3D)高温环境
SOI晶圆结构示意图
典型的PN结隔离的双极型工艺流程复杂,总的工SOI材料是在绝缘层上生长一层具有一定厚度的单
序一般有40多道(9次光刻,5次隔离)。晶硅薄膜的材料。该材料可实现完全的介质隔离,
MOS场效应晶体管是金属—氧化物—半导体场效与有PN结隔离的体硅相比,具有无闩锁、高速度、
应晶体管的简称,它通过改变外加电压产生的电场低功耗、集成度高、耐高温等特点。SOI材料性能
强度来控制其导电能力。MOS晶体管是电压控制好,成本低,与体硅集成电路工艺完全兼容,它完
元件,参与导电的只有一种载流子,因此称其为单全可以继承体硅材料与体硅集成电路迄今所取得
极型器件。MOS晶体管可以分
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