设计报告-集成运放测试仪 .pdfVIP

集成运放参数测试仪

摘要

本系统参照片上系统的设计架构、采用FPGA与stm32相结合的方法，以

stm32单片机为进程控制和任务调度核心；FPGA做为外围扩展，内部自建系统

总线，地址译码采用全译码方式。FPGA内部建有DDS控制器，单片机通过系

统总线向规定的存储单元中送入正弦表；然后DDS控制器以设定的频率，自动

循环扫描，生成高精度，高稳定的5Hz基准测量信号。扫频信号通过对30MHz

的FPGA系统时钟进行分频和高速DA产生高频率稳定度、幅值稳定度的扫频信

号。放大器参数测量参照GB3442-82标准，信号幅度的测量通过AD536效值芯

片转化为直流信号测得。A/D转换TI公司的高精度12逐次比较ADTLV2543。

stm32主要实现用户接口界面（键盘扫描、液晶显示、数据打印以及其他服务进

程的调度）、AD转换以及测量参数（VioIioKcmrAvdBWGTr）计算、与上

位机通信等方面的功能。上位机主要实现向下位机发送测量指令、与下位机交换

测量数据、以及数据的存储、回放、统计。

abstract:

withreferencetothesystemonachipsystemdesignarchitecture,usingthemethod

ofcombiningtheFPGAwithstm32stm32microcontrollerascoreprocesscontrolandtask

scheduling;TheFPGAasperipheralexpansion,internalself-builtsystembus,address

decodingadoptsthewholedecodingmethod.BuiltinsidetheFPGADDScontroller,single

chipmicrocomputertothespecifiedstorageunitthroughthesystembusintosinetable;

ThenDDScontrolleratasetfrequency,theautomaticcyclescan,generatehighprecision,

highstabilityof5hzmeasuringsignal.FrequencysweepsignalbyFPGAto30MHZsystem

clockfrequencydivisionandexternalphase-lockedloop(FPGAusingFLEX10K10without

internalphase-lockedloop)multiplefrequency,highfrequencystabilityandfrequency

sweepsignalamplitudestability.AmplifierparametersmeasurementreferenceGB3442-82

standard,thelowfrequencysignalamplitudemeasurementtakehigh-speedADsampling,

thendigitalprocessingmethod;Therangeofthehighfrequencysignaldirectlymeasured

usingintegratedRMSconversionchip.A/DconversionofTIcompanyhigh-precision12

successivecomparativeADTLV2543.Achievestm32mainuserinterfaces(keyboard

scanning,LCDdisplay,dataprinting,andotherserviceprocessscheduling),ADtransform

andmeasurementparameters(VioIioKc