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基于PLC和组态王的芯片老化测试温度控制系统设计.pdf

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金陵科技学院学报Vol.No.#

JOURNALOFJINLINGINSTITUTEOFTECHNOLOGY2021

DOI:#911站.

10.1651532-1722/11.202101008

基于和组态王的芯片老化测试温度控制系统设计

PLC

杨忠,

王逸之李嘉玮

,南京)

(金陵科技学院智能科学与控制工程学院江苏211169

:,为了保证芯片的可靠性和耐用性,

摘要芯片作为电子产品的核心组成部分起着电子产品大脑的作用。厂家

需要在出厂前进行芯片老化测试,与组态王对芯片

。在对芯片老化测试控制系统进行综述的基础上采用PLC

老化温度控制系统中上下位机的硬件和软件分别进行了设计,:

、实现了系统的位式控制’调试结果表明该设计

,。

能准确完成芯片老化测试的任务确保每一环节稳定运行

词:

关键芯片老化测试;温度控制系统;设计;组态王PLC

中图分类号TP273文献标识码:A文章编号672-755X(2021)01-0040-06

DesignofChipAgingTestTemperatureControlSystem

BasedonPLCandKingView

WANGYEzhi,YANGZhong,LIJia-wei

ofTechnology,211169,

InstituteChina)

(JinlingNanjing

Abstract:Asthecorecomponentofelectronicproducts,chipsplaytheoleofthebrainsof

the

electronicproducts.Inordertoensurereliabilityanddurabilityofchips,manufacturers

needtope

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