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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号
CN101055850A
(43)申请公布日2007.10.17
(21)申请号CN200710096159.8
(22)申请日2007.04.13
(71)申请人台湾积体电路制造股份有限公司
地址中国台湾新竹市
(72)发明人曾乙弘;吴冠良
(74)专利代理机构隆天国际知识产权代理有限公司
代理人陈晨
(51)Int.CI
H01L21/82;
权利要求说明书说明书幅图
(54)发明名称
集成电路设计的制造方法与系统
(57)摘要
本发明提供集成电路设计的制造方法与系
统,可用于局部移除多项目晶片的电路图案。该
方法为先定义其中一个使用者的集成电路设计为
不需移除的部分,接着通过集成电路移除方法,
将属于其他客户的集成电路完全移除。随后,此
部分电路已移除的多项目晶片可提供给单一使用
者进行电路测量,而不需担心公开其他使用者的
设计电路。在实例中,通过激光系统可对于定义
移除的集成电路进行完整的移除,于过程中不会
对于留下的集成电路造成任何的影响。在另一实
例中,利用钻石锯片也可对已定义移除的集成电
路进行完整的移除,在过程中不会对于定义留下
的其他集成电路的电路性能造成任何的影响。
法律状态
法律状态公告日法律状态信息法律状态
2007-10-17公开公开
2007-12-12实质审查的生效实质审查的生效
2009-10-21授权授权
权利要求说明书
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说明书
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