TCESA-人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法.pdf

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团体标准

T/CESAXXXX—2019

人工智能芯片面向边缘侧的深度学习

芯片测试指标与测试方法

AIChipsTestIndexandTestMethodofDeepLearningChipsforEdgeSide

（征求意见稿）

2019--发布2019-XX-实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/XXXXXXXX—XXXX

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目次

前  言I

人工智能芯片面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法1

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语3

5技术要求3

5.1训练技术要求(非必须）3

5.1.1测试对象3

5.1.2测试网络架构3

5.1.3训练过程3

5.1.4模型一致性规则4

5.2推理技术要求4

5.2.1测试框架4

5.2.2测试对象4

5.2.3测试网络架构5

5.2.4测试场景信息5

5.35.2.5作业到达5

5.2.6模型压缩规则5

6测试方法5

6.1测试指标5

6.2测试指标描述6

6.2.1平均推断时间6

6.2.2最大吞吐性能6

6.2.3前向处理延迟性能6

6.2.4功耗6

6.2.5能效比6

6.2.6模型推断精度6

6.2.7达到目标所需训练时间（非必需）6

6.3测试类型7

6.3.1通用测试7

6.3.2专用测试7

6.4训练测试方法（非必须）7

6.36.4.1运行监测