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1+X集成电路理论试题(附答案)
一、单选题(共39题,每题1分,共39分)
1.SOP封装的芯片一般采用()形式进行包装。
A、卷盘
B、编带
C、料管
D、料盘
正确答案:B
答案解析:SOP封装因其体积小等特点,一般采用编带包装形式。
2.转塔式分选机常见故障不包括()。
A、真空吸嘴无芯片
B、测试卡与测试机调用的测试程序错误
C、料轨堵塞
D、IC定位错误
正确答案:D
3.打开安装好的keil软件,点击工具栏“魔术棒”按钮,点击()选项,选择目标芯片。
A、Target
B、C/C++
C、Debug
D、Device
正确答案:D
4.重力分选机自动装料步骤中将待测料管放在筛选机的入料区内,料管随传送带上升到()。
A、入料区
B、显示区
C、废料区
D、激光检测区
正确答案:D
5.以全自动探针台为例,上片过程中,当承重台下降到指定位置时,()。
A、红色指示灯亮
B、红色指示灯灭
C、绿色指示灯亮
D、绿色指示灯灭
正确答案:B
答案解析:以全自动探针台为例,承重台前的两个按钮指示灯:绿色表示上升,红色表示下降。承重台下降到指定位置后,下降指示灯灭,即红色指示灯灭。
6.重力式分选机进行自动上料筛选,当检测到传送带上的料管放置不符合要求时,下一步对料管的操作是()。
A、拔出塞钉
B、进入空管槽
C、进入上料槽
D、放回上料区
正确答案:D
答案解析:激光检测到不符合要求的料管会重新放回上料区,等待下次筛选。
7.料盘外观检查的步骤正确的是()。
A、查询零头(若有)→零头检查→检查外观→电路拼零→零头储存
B、检查外观→查询零头(若有)→零头检查→电路拼零→零头储存
C、查询零头(若有)→零头检查→电路拼零→零头储存→检查外观
D、检查外观→零头储存→查询零头(若有)→零头检查→电路拼零
正确答案:B
答案解析:料盘外观检查的步骤:检查外观→查询零头(若有)→零头检查→电路拼零→零头储存。
8.下列描述错误的是()。
A、重力式分选机可分为并行测试和串行测试
B、并行测试一般是进行单项测试(可根据测试卡的数量进行1site/2sites/4sites测试),适用于普通DIP/SOP封装的芯片
C、串行测试一般是进行多项测试,适用于DIP24/DIP27等模块电路
D、并行测试时模块电路依次进行不同电特性参数的测试
正确答案:D
9.进行料盘包装时,一个内盒中通常装有()袋真空包装完的料盘。
A、1
B、2
C、3
D、4
正确答案:A
答案解析:进行料盘包装时,-个内盒中通常装有1袋真空包装完的料盘。
10.()是使硅片上的局部区域达到平坦化。
A、平滑处理
B、部分平坦化
C、局部平坦化
D、全局平坦化
正确答案:C
答案解析:局部平坦化是将硅片表面局部进行平坦化处理,使其达到较高的平整度。
11.利用平移式分选设备进行芯片检测时,芯片在该区域的操作完成后会进入()区域。
A、待测
B、分选
C、测试
D、上料
正确答案:B
12.在版图设计过程中,N-MOS管的源极接(),漏极接(),P-MOS管的源极接(),漏极接()。
A、地、高电位、GND、低电位
B、电源、高电位、GND、低电位
C、地、高电位、GND、高电位
D、地、高电位、电源、低电位
正确答案:A
13.重力式分选机的测试环节是在()中进行。
A、主转塔
B、旋转台
C、测试轨道
D、水平面上
正确答案:C
答案解析:重力式分选机的测试环节是在测试轨道中进行的。主转塔和旋转台是转塔式分选机的设备,平移式分选机是在水平面上完成芯片的测试、分选。
14.电子组装业中最通用最广泛的文件格式是()。
A、BOM
B、PCB
C、ICT
D、Gerber
正确答案:D
15.探针台上的()处于()状态时不能进行其他操作,容易引起探针台死机,导致晶圆撞击探针测试卡。
A、红色指示灯、亮灯
B、指示灯、亮灯
C、绿色指示灯、亮灯
D、红色指示灯、灭灯
正确答案:B
答案解析:探针台上的指示灯处于亮灯状态时不能进行其他操作,容易引起探针台死机,导致晶圆撞击探针测试卡。其中红色指示灯表示下降,绿色指示灯表示上升,当至少有一盏指示灯处于亮灯状态时不能进行其他操作。
16.SOP封装的芯片因其体积小等特点,一般采用()。
A、料盘包装
B、编带包装
C、料管包装
D、散装
正确答案:B
答案解析:SOP封装的芯片因其体积小等特点,一般采用编带包装。
17.重力式分选机的测试环节是在()进行。
A、旋转台上
B、主转塔中
C、测试轨道中
D、水平面上
正确答案:C
18.该图是()的版图。
A、D触发器
B、一位全加器
C、传输门
D、与非门
正确答案:A
19.在进行料盘真空包装时,需要在()上进行。
A、平移式分选机
B、真空
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