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冲击试样缺口投影仪检定规程

1范围

本规程适用于冲击试样缺口投影仪的首次检定、后续检定和使用中检查。

2引用文件

本规程引用了下列文件：

JJF1002-2010国家计量检定规程编写规则

GB/T229-2020金属材料夏比摆锤冲击试验方法

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文件，

其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本规程。

3概述

冲击试样缺口投影仪是一种专用于检查金属材料夏比摆锤冲击试验中所使用的冲击试样缺口加工质量的专用测量仪器，试样缺口有V型和U型两种。根据冲击试样缺口投影仪观察物体图像的方式，可分为光学型冲击试样缺口投影仪（以下简称光学投影仪）和数

码型冲击试样缺口投影仪（以下简称数码投影仪）两种形式。

光学投影仪主要由影屏、50倍物镜、玻璃工作台和光源组成，其结构如图1所示，影屏上刻有冲击试样缺口标准样板，其示意图如图2所示。光学投影仪利用光学放大原理，将被测冲击试样经过光学系统放大后成像在影屏上，冲击试样缺口影像与影屏上的标准样

板进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。

数码投影仪主要由机械主机、摄像头、工作台、对焦调节旋钮和测量软件等组成，数码投影仪采集被测冲击试样缺口图像，通过测量软件进行图像自动捕捉，测量冲击试样缺

口的表面坐标点，自动判定被测试样是否合格。数码投影仪结构示意图见图3。

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图1光学投影仪结构示意图

图2投影屏标准样板示意图

1投影屏250X物镜3玻璃工作台4光源

图3数码投影仪的结构示意图

1主机2摄像头3对焦调节旋钮4工作面

4计量性能要求

4.1投影屏标准样板尺寸误差

投影屏标准样板尺寸误差应不大于表1中的要求。

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表1投影屏标准样板尺寸示值误差

序号

名称

标准样板

标称值

经50倍放大后名义值

最大允许误差

1

缺口根部半径

V型缺口

0.225mm

11.25mm

±0.4mm

0.25mm

12.5mm

±0.4mm

0.275mm

13.75mm

±0.4mm

U型缺口

0.93mm

46.5mm

±1mm

1mm

50mm

±1mm

1.07mm

53.5mm

±1mm

2

缺口角度

43°

43°

±40′

45°

45°

±40′

47°

47°

±40′

3

缺口深度

2mm

100mm

±1.25mm

4.2物镜光轴和投射照明光轴与工作台面的垂直度应使量块两侧影像同样清晰，无可见的阴影。

4.3投影仪物镜放大倍数误差

光学投影仪物镜放大倍数为50倍，物镜放大倍数最大允许误差为±0.08%。

4.4仪器示值误差

数码投影仪尺寸测量的示值误差应不大于表2中的要求。

表2仪器示值误差

序号

名称

V型缺口试样

U型缺口试样

1

缺口根部半径

±0.008mm

±0.02mm

2

缺口角度

±40′

——

3

缺口深度

±0.025mm

5通用技术要求

5.1外观

5.1.1仪器应标明制造厂或厂标、型号、出厂编号。

5.1.2仪器工作面应无锈迹、碰伤、明显划痕等缺陷，仪器的涂、镀层应无脱落现象。

5.1.3光学系统在整个视场内成像应清晰，视场内应无油迹、灰尘、水渍、麻点和霉斑等影响使用的疵病。

5.1.4光学投影仪投影屏上的文字、符号、数值及单位应字迹清晰，投影屏上图案刻线应清晰、均匀，无断线和脱漆（或脱色）现象。

5.2各部分相互作用

4

仪器各操作开关、按键和指示灯工作可靠，各操作功能应运行正常。

后续检定和使用中检查的仪器，允许有不影响仪器计量性能的上述缺陷。

6计量器具控制

计量器具控制包括首次检定、后续检定及使用中检验。

6.1检定条件

6.1.1检定仪器的室内温度：（20±5）℃,室温变化：±0.5℃/h；

6.1.2检定仪器的室内湿度：相对湿度不超过70%；

被检定仪器在室内平衡温度时间不少于24h，检定用标准器在室内平衡温度时间不少

于3h，检定地点附近不应有强振动源干扰。

6.2检定项目和主要标准设备

检定项目、检定类别和主要标准设备见表4。

表4检定项目和检定设备

序号

检定项目

主要检定设备

检定类别

检定项目说明

首次检定

后续检定

使用中检查

光学投影仪

数码投影仪

1

外观及各部分相互作用

---

+

+

+

△

△

2

物镜光轴和投射照明光轴与工作台面的垂直度

5等量块

+

-

-

△

×

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投影仪物镜放大倍数误差

2等标准玻璃线纹尺