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材料分析方法试题

一、填空：（每题2分，共20分）

1.X射线产生的三个基本条件是：、、

。

2.电子显微分析可获得材料的、_______________和

方面的信息，并且可以将三者结合起来。

3.X射线衍射的强度主要取决于_______因子、________因子、

_______因子、________因子和________因子。

4.是衍射的必要条件；是衍射的充分条件。

5.电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的______________，其理

论分辨本领是由______________和______________综合作用的结果。

6.透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中

________衬度主要用于解释晶体样品，_________衬度主要用于解释非晶

样品。

7.在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动θ角时，X

射线探测器应转动______角；若样品固定，当X射线管转动θ角时，X

射线探测器应转动_______角。

8.在透射电镜中,明场（BF）像是用________光阑挡掉________束，

只允许________束通过光阑成的像。

9.电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的________信号，

按照对信号的色散方式不同分为________仪和________仪。

10.俄歇电子能谱利用的是________与固体样品作用所产生的

________信号，通过检测该信号的________来确定所含元素的表面分析

方法。

二、选择：（1-8每题2分，9题4分，共20分）

1.分析多晶衍射花样时，若各衍射线对应的Sin2θ比（X射线衍

射）或R2比（电子衍射）的序列为3：4：8：11：12……,则可确定

该物相结构为________。

A、简单立方

B、体心立方

C、面心立方

D、金刚石立方

2.立方晶系{111}晶面的多重性因子为________。

A、4

B、6

C、8

D、12

3.在TEM中进行选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，

这时中间镜的物平面与物镜的________重合；选区光阑与物镜的

________重合。

A、物平面

B、主平面

C、后焦面

D、像平面

4.扫描电镜形貌像的分辨率与________无关。

A、检测信号的类型

B、样品原子序数

C、放大倍数

D、入射束斑直径

5.对某立方晶系样品进行TEM分析，在操作矢量1gg

=时观察到一条直线位错。倾动样品，在2gg

=时上述位错的衬度消失；再次倾动样品，在3gg=时上

述位错的衬度仍消失，那么该位错柏氏矢量b

的方向为________。A、21gg?B、21gg

C、32gg?D、32gg?

6.在下列材料成分分析仪器中，________可测试元素的范围最宽。

A、俄歇电子能谱

B、X射线光电子能谱

C、X射线波谱仪

D、X射线能谱仪

7.X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线_____改变；而微观应

力测定利用的是衍射线______改变。

A、强度

B、位置

C、宽度

D、形状

8.复型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法，

其中________可用于金属与合金中析出相的分析。

A、塑料一级复型

B、碳一级复型

C、塑料－碳二级复型

D、萃取复型

9.根据分析测试内容选择适当的分析仪器。

(1)材料表面的残余应力测定________；(3)晶体的点阵常数精确测

定________

(2)晶界析出相晶体结构分析________；(4)界面化学成分测定

________A、扫描电子显微镜B、X