《探针培训资料》课件.pptVIP

*****************课程概述探针技术概述本课程将介绍探针技术的基本原理、分类、应用场景以及常见问题。课程内容课程涵盖探针的种类、选择、使用技巧、测试方法和安全操作指南等内容。目标群体本课程适合从事电子产品研发、测试、生产和维护的相关人员。探针简介探针是电子测试设备中必不可少的工具。它是测试系统的“眼睛”，通过连接测试设备和被测目标，完成测量任务。探针种类繁多，从细微的针尖到强健的夹持装置，满足不同测试需求，提供精准的测量数据。探针的作用和原理探测信号探针用于探测电路板上的电子信号，例如电压、电流和频率。探针可以连接到测试设备，帮助工程师进行测量和分析。传输信号探针也可以用于传输信号，例如将测试设备的信号传输到电路板，或将电路板的信号传输到测试设备。连接测试点探针的尖端可以接触到电路板上的测试点，以进行测试和测量。探针的材料和结构必须适合测试点的形状和尺寸。微型化设计现代探针的设计越来越微型化，以适应越来越小的电子元件，例如芯片和微型连接器。探针分类直针型探针结构简单，易于操作，价格较低，适用于大多数测试场景。弯头型探针弯头设计，可用于测试难以触及的区域，提高测试效率。超细针型探针针头更细，可用于测试微小元件，提高测试精度。直针型探针直针型探针是最常见的探针类型。它具有简单结构、易于安装和维护的优点。直针型探针通常用于测试电路板上的引脚，并提供可靠的连接性。直针型探针可用于各种应用，包括电子产品测试、电路板调试和失效分析。它们的设计保证了与测试点的良好接触，确保信号质量和测量精度。弯头型探针弯头型探针适用于测试难以直接接触的测试点，例如PCB板的背面或元件的底部。这种探针的针头可以弯曲成不同的角度，方便测试人员在各种情况下进行测试。超细针型探针高精度测试超细针型探针适用于测试微小器件，例如芯片上的BGA焊点。微小间距测试它们能够接触到非常靠近的引脚，提供精确的测量结果。柔性设计超细针型探针的柔性设计使其能够适应复杂形状的器件。探针选择11.测试类型不同的测试类型需要不同的探针，例如直针型探针适合通孔器件，弯头型探针适合表面贴装器件。22.器件类型器件引脚间距、尺寸、形状等因素决定了探针的类型和尺寸。33.测试频率高频测试需要高性能探针，以确保信号完整性和测试精度。44.测试环境温度、湿度等因素也会影响探针的选择，例如高温环境下需要使用耐高温探针。探针安装与调试1探针选择根据目标芯片的引脚尺寸、间距和数量，选择合适的探针型号和规格。2探针安装将探针卡插入探针座，确保探针与芯片的引脚对齐，并进行固定。3探针调试使用测试仪器进行测试，验证探针与芯片的连接是否正常，并对探针的压力和高度进行微调，以确保最佳接触。探针保养与维护清洁定期清洁探针针尖，避免污垢影响测试精度。存放存放时应避免阳光直射，保持干燥，防止生锈。润滑定期对探针进行润滑，保持灵活度和使用寿命。检查定期检查探针针尖是否磨损或变形，及时更换。探针检查外观检查检查探针尖端是否有弯曲、断裂或其他损坏。功能测试使用测试仪器验证探针的电气性能，确保其能正常工作。记录维护定期记录探针检查结果，以便追踪探针的维护情况。探针测试技术直接接触测试探针直接接触被测器件的引脚或焊盘，进行信号测量。适用于对器件引脚的电压、电流、阻抗等参数进行测试。间接接触测试探针通过探测器件表面上的信号，进行间接测量。通常用于测试信号的频率、波形、幅度等参数。非接触测试探针不接触被测器件，通过电磁场或光学方法进行信号测量。适用于对高频信号、微波信号、光信号等的测试。直接接触测试针尖接触直接接触测试方法中，探针针尖直接接触到器件的测试点。接触压力针尖需要施加适当的接触压力，以确保良好的电气连接。接触面积针尖的接触面积会影响测试结果，需要根据测试点大小选择合适的探针。测试信号可以直接测量测试点的电压、电流或其他信号，以判断器件功能。间接接触测试间接接触测试是指探针不直接接触目标芯片，而是通过连接器或其他器件间接进行测试。1连接器测试使用探针连接到目标器件的连接器，然后通过连接器进行测试。2过孔测试使用探针连接到目标器件的过孔，然后通过过孔进行测试。3柔性板测试使用探针连接到目标器件的柔性板，然后通过柔性板进行测试。间接接触测试通常用于测试无法直接接触到目标芯片的器件，或在需要保护目标芯片的情况下。非接触测试1电容耦合探针与器件间形成电容2感应耦合探针与器件间形成感应耦合3光学测量利用光学原理测量信号非接触测试技术无需直接接触器件，