电镜原理及其应用.pptVIP

STEM/EELS附件应用：定性分析众所周知,透射电子显微术(TEM)是用平行的高能电子束照射到一个能透过电子的薄膜样品上,由于试样对电子的散射作用,其散射波在物镜后方将产生两种信息。在物镜的后焦平面上形成含有晶体结构信息的电子衍射花样;在物镜像平面上形成高放大倍率的形貌像或是高分辨率的反映样品内部结构的像。扫描电子显微术(SEM)则是用聚焦的低能电子束扫描块状样品的表面,利用电子与样品相互作用产生的各种信息成像,可以得到表面形貌,化学成份及晶体取向等信息。，散射角θ1θ2间的环状区域中散射电子的散射截面σ等离子状态，是指物质原子内的电子在高温下脱离原子核的吸引，使物质呈正负带电粒子状态存在Pt/Al2O3Pt考察元素分布和某一种元素的颗粒大小和形貌6263注：所以EELS是检测透射样品的电子，检测的是整个样品的厚度。64等离子体震荡价带电子跃迁芯级电子跃迁65三、EELS谱的分析处理定性分析定性分析的任务就是要逐个鉴别出各个电离损失边所属的元素及谱系，从而判定试样中包含的元素种类。方法如下：利用EELS谱上一个或两个已知能损值的特征对该谱进行能量标定。在EELS谱上正确地读出每个电离边对应的能量值，一一记录下来。利用计算机储存的元素临界电离能数据表或者手工查表，并参考已知的元素电离边特征形状资料，确定EELS谱上各个电离边所对应的元素及谱线名称。66三、EELS谱的分析处理67686970Z衬度像元素分布图71EELS的其他应用关于结构分析，它所给出的信息是关于微区的，局域的，对样品的破坏作用小，适合研究气体在固体表面的吸附。对吸附有很高的灵敏度，可以对小于0.1%单原子层的吸附做常规分析，这些分析包括化学物品在表面的吸附及吸附层在化学反应过程中所产生的中间物的鉴定。4.它的应用包括研究固体上的催化反应，金属表面的腐蚀等。72HRTEM里EELS和EDS比较73谢谢大家！80光具组件中光学元件的边缘、框架或特别设置的带孔屏障称为光阑在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做二次电子，真空中的自由电子当试样厚度小于入射电子的穿透深度时，入射电子将穿透试样，从另一表面射出称为透射电子。X射线荧光，物质受原级X射线或其他光子源照射，受激产生次级X射线的现象。*荧光屏是彩色显像管Astheattenuationofthebeamdependsonthedensityandthethickness,thetransmittedelectronsformatwo-dimensionalprojectionofthesamplemass,whichissubsequentlymagnifiedbytheelectronopticstoproduceaso-calledbright-fieldimage.纳米级针尖球差是由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子会聚能力不同而造成的。远轴电子通过透镜时被折射得比近轴电子开厉害得多，因而有同一物点散射的电子经过透镜后不交在一点上，而是在透镜相平面上变成了一个漫射圆斑。焦点，在物理学上指平行光线经透镜折射或曲面镜反射后的会聚点.焦平面上成的像是衍射光斑，像平面上成的是形貌结构，透过物镜光阑，所以散射电子少，成像效果好.明场像（BF）：选用直射电子形成的像（透射束），像清晰。

暗场像（DF）：选用散射电子形成的像（衍射束），像有畸变、分辨率低。

成像电子的选择是通过在物镜的背焦面上插入物镜光阑来实现的。原子序数越低，散射原子越少。这样透射电子会越多，因此原子序数越低的话，透射的样品厚度也就越厚。即把准备观察的试样的表面形貌(表面显微组织浮凸)用适宜的非晶薄膜复制下来，然后对这个复制膜(叫做复型)进行透射电镜观察与分析.复型适用于金相组织，断口形貌，形变条纹，磨损表面，第二相形态及分布，萃取和结构分析等.制备复型的材料本身必须是无结构的，即要求复型材料在高倍成像时也不显示其本身的任何结构细节，这样就不致干扰被复制表面的形貌观察和分析.常用的复型材料有塑料，真空蒸发沉积炭膜(均为非晶态物质).光栅扫描显示器显示图形时，电子束依照固定的扫描线和规定的扫描顺序进行扫描。电子束先从荧光屏左上角开始，向右扫一条水平线，然后迅速地回扫到左边偏下一点的位置，再扫第二条水平线，照此固定的路径及顺序扫下去，直到最后一条水平线，即完成了整个屏幕的扫描。光栅扫描显示器则依靠帧缓存实现对屏幕图形的刷新它不仅可以显示物体的轮廓线，而且由于能对每一