厦门大学材料学院考研 材料测试习题.pdfVIP

1、

1、X射线衍射在材料分析测试方面有哪些具体的应用？

2、X射线的本质是什么？获得X射线的方法有哪些？

3、简述X射线管的基本原理。

4、滤波片的作用是什么？应该怎样选择？

5、写出求解公式：I）已知同一晶带的两晶面指数，求晶带轴；II）已知两晶带轴平行于同

一晶面，求此晶面指数。

6、在立方点阵中画出下面的点阵面和结点方向。

（010）（0-11）（113）[1-10][201][101]

7、将下面几个干涉晶面（属立方晶系）按面间距的大小排列。

（123）（100）（-200）（31-1）（1-21）（210）（110）（-221）（030）（130）

8、证明在六方晶系中h+k＝-i。

9、晶面（110）（311）（132）是否属于同一晶带？晶带轴是什么？再指出属于这个晶带的其

它几个晶面。

10、试求六方晶系的面间距公式。（自由选作）

2、

1、试推导劳厄方程并解释其物理意义。

2、推导布拉格定律。该定律有何应用？

3、试述影响X射线的衍射线束强度的主要因素。

4、什么是结构因子？对衍射强度结果有何影响？

5、X射线照射在单晶Au薄膜样品上，表面是（111）晶面，入射波波长为0.1542nm，点阵

常数为0.4078nm，求最低角衍射束的衍射角2θ。

6、上题中单晶Au薄膜样品，如果是电子束垂直薄膜表面入射，电子波波长为0.002nm，求

晶面（20-2）反射束的衍射角。

7、写出三个立方晶体中与晶面（11-1）和（011）都垂直的晶面。

8、假设薄晶体只有一层晶胞，现有单色平面波垂直该晶体表面入射，试分析该晶体产生的

衍射现象。（选做）

9、对于晶粒直径分别为100，75，50，25nm的粉末衍射图形，请计算由于晶粒细化引起的

衍射线条宽化幅度（设θ＝45°，λ＝0.15nm）。又对于晶粒直径为25nm的粉末，试计算

θ＝10°、45°、80°时的B值。

10、试计算出金刚石晶体的系统消光规律（F2表达式）。该晶体为立方晶，单胞中有8个C

原子分别位于以下位置：000，1/21/20，1/201/2，01/21/2，1/41/41/4，3/43/4

1/4，3/41/43/4，1/43/4¾。

3、

1用CuK射线以粉晶法测定下列物质,求最内层的三个德拜环的2角及所代表晶面的hkl

值:

(1)简单立方晶体(a=3.00Å)

(2)简单四方晶体(a=2.00Å,c=3.00Å)

2:用MoK照射一简单立方粉末样品(a=3.30Å),用Ewald作图表示所发生的200衍射.Mo

的K波长=0.7107Å

3影响衍射强度的因素有哪些？

4Debye图中在高、低角区出现双线的原因分别是什么？

5试求直径为57.3mmDebye相机在θ=80o与20o时由Kα1、Kα2所引起的双线间距是

多少。所用光源为Cu靶（λ1=0.154050nm;λ2=0.154434nm;λ=0.154178nm;)。

如所用光源为Cr靶,结果将如何？

Calculatethedistance(inmm)betweenthedoublelinesatθ=20˚andθ=80˚forDebye

diagram(Φ=57.3mm),CuKα(λ=0.154178nm;λ1=0.154050nm;λ2=0.154434nm).IfCr

wereused,whatdifferencesoccur?

6试求直径为57.3mmDebye相机在θ=60o时由Kα1、Kα2所引起的双线间距是多少。

所用光源为Fe靶（λ1=0.193593nm;λ2=0.193991nm)

Calculatethedistance(inmm)betweenthedoublelinesatθ=60˚forDebyediagram(Φ

=57.3mm),FeKα.(λ=0.193728nm;λ1=0.193593nm;λ2=0.193991nm).

7简单叙述Debye法的原理与实验方法。

8作图表示衍射仪的结构与衍射几何（包括样品、反射晶面、聚焦圆、衍射仪圆）

1、试述PDF卡片各区域的意义。