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关键质量特性(简称CTQ,CriticaltoQuality)

关键质量特性（CTQ）定义：产品或零部件可能对最终产品的主要功

能，安全性，可靠性或成本造成显著影响的特性。

关键工序（CTP）定义：对关键特性的形成起决定性作用的工序。

关键质量特性（简称CTQ）可视化管理

绿色区域表示完全满足；

对于过程能力来讲，过程能力完全满足要求，CPK(PPK)1.5;

对于测量系统来讲,测量能力完全满足要求,R﹠R10%.

黄色区域表示部分满足；

对于过程能力来讲，过程能力部分满足要求，1CPK(PPK)1.5;

对于测量系统来讲,测量能力部分满足要求,10%R﹠R30%.

红色区域表示不满足;

对于过程能力来讲，过程能力不满足要求，CPK(PPK)1;

对于测量系统来讲,测量能力不满足要求,R﹠R30%.

过程（工序）能力分析（简称CPCapabilityProcessAnalysis）

1、过程能力（简称CP）

在制造业中，过程能力称为工序能力，是指工序中人、机、料、法、

测、环（5M1E）诸因素均处于规定的条件下，操作呈稳定状态下的实

际加工能力。用6б表示。

根据统计学理论，若质量特征值服从正态分布，则质量特征值落入6

倍的标准偏差s内，其概率为99.73%。

2、过程能力指数(简称CPK)

（1）过程（工序）能力指数（简称CPKCapabilityProcessKey）

过程（工序）能力指数是表示过程（工序）能力满足公差范围要求程

度的量值。

过程能力指数是公差范围（T）和过程（工序）能力（6б）的比值。

一般用符号CP表示。

(2)过程（工序）能力指数计算

1)当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)相一致时，

用符号CP表示。

CP=T/6σ≈(TU-TL)/6S

2）当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)不一致

时，用符号CPK表示，ε=|X－M|

CPK=(T-2ε)/6σ≈(T-2ε)/6S=（1-K）CP

3）当给定单向公差的上限时:

CPU≈(TU-X)/3S

4）当给定单向公差的下限时:

CPL≈(X-TL)/3S

(3)过程（工序）能力指数的评定

A.过程（工序）能力等级评定表，对有偏过程能力的判断（供参考）。

CPK值偏离系数K建议的措施

1.33CPK0K0.25不必调整

1.33CPK0.25K0.50密切关注

1.00CPK≤1.330K0.25密切关注

1.00CPK≤1.330.25K0.50应予以调整

B．对有偏过程能力的调整原则：1.CP值的富裕程度；2.调整的难易

程度；3.对最终产品的影响；4.调整的经济性。

3.提高过程（工序）能力指数的途径

a.减少加工中心的偏移量；b.减少标准偏差；c.增大公差范围。

实践证明，在工序加工分析时，减少中心偏移量，在技术上，操作上

比较容易实现。

只有当中心偏移量等于0，工序能力指数小于1时，才考虑是否采用

b或c两种途径。

测量系统分析（简称MSAMeasurementSystemAnalysis）

使用数理统计和图表对测量系统误差进行分析，以评估测量系统对于

被测量的参数是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。

为了明确流程变动的原因,首先应知道测量系统的变动,并且要把它

与流程变动相区分,测量GageRR分析将这样的变动要因定量化。观

测到的流程变动有两种：

（1）实际流程(制品)的变动

长期流程变动：PPK有偏移长期过程能力指数。

短期流程变动：CPK有偏移短期过程能力指数。

（2）测量系统的变动

第一类由测量gage造成的变动

1.分辨力（Discrimination）：指测量系统检出并如实指示