光学测量与表征技术的发展与应用研究考核试卷.docx

光学测量与表征技术的发展与应用研究考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本次考核旨在评估考生对光学测量与表征技术发展与应用研究的掌握程度，检验考生对光学测量原理、方法、设备以及在实际应用中的问题解决能力。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.光学干涉的基本原理是（）

A.光的衍射

B.光的折射

C.光的干涉

D.光的吸收

2.以下哪种方法不是激光束的传输方式（）

A.直线传播

B.折射传播

C.全反射传播

D.扩散传播

3.在光学测量中，使用分束器的主要目的是（）

A.增大光束的强度

B.分割光束进行不同测量

C.提高光束的稳定性

D.减小光束的尺寸

4.下列哪种光学元件可以实现光束的聚焦（）

A.平面镜

B.凹面镜

C.凸透镜

D.折射棱镜

5.光谱分析中，用于观察物质吸收光谱的仪器是（）

A.光栅光谱仪

B.分光光度计

C.发射光谱仪

D.扫描电镜

6.以下哪种方法可以用来测量薄膜的厚度（）

A.法向干涉法

B.垂直干涉法

C.偏振干涉法

D.反射干涉法

7.在光学测量中，用于测量物体表面形状的仪器是（）

A.扫描电镜

B.光栅干涉仪

C.透射式显微镜

D.双折射仪

8.以下哪种光学元件可以用来改变光束的传播方向（）

A.全反射棱镜

B.平面镜

C.凸透镜

D.凹透镜

9.光学位移测量中，常用的探测器是（）

A.光电倍增管

B.光电二极管

C.光电倍增管和光电二极管

D.以上都不是

10.在光学系统中，下列哪种因素会导致成像模糊（）

A.光束发散

B.光束会聚

C.光束平行

D.光束稳定

11.下列哪种方法可以用来测量光学材料的折射率（）

A.折射仪法

B.折射率旋光法

C.折射率色散法

D.以上都是

12.光学干涉条纹的对比度取决于（）

A.光强

B.干涉级数

C.相干长度

D.以上都是

13.以下哪种光学元件可以实现光束的偏振（）

A.偏振片

B.偏振棱镜

C.偏振光栅

D.以上都是

14.下列哪种方法可以用来测量光学系统的像差（）

A.波带片法

B.光栅法

C.逐帧曝光法

D.以上都是

15.在光学测量中，用于测量物体表面粗糙度的仪器是（）

A.扫描电镜

B.光栅干涉仪

C.粗糙度计

D.双折射仪

16.以下哪种光学元件可以用来改变光束的偏振状态（）

A.偏振片

B.偏振棱镜

C.偏振光栅

D.以上都是

17.在光学测量中，用于测量光学系统分辨率的仪器是（）

A.分辨率计

B.扫描电镜

C.光栅干涉仪

D.双折射仪

18.以下哪种方法可以用来测量光学材料的色散系数（）

A.色散仪法

B.色散旋光法

C.色散色散法

D.以上都是

19.光学位移测量中，常用的光学系统是（）

A.移动光栅

B.移动反射镜

C.移动透镜

D.以上都是

20.下列哪种因素会导致光学系统成像的畸变（）

A.像差

B.光束发散

C.光束会聚

D.光束稳定

21.在光学测量中，用于测量物体表面形貌的仪器是（）

A.扫描电镜

B.光栅干涉仪

C.透射式显微镜

D.双折射仪

22.以下哪种光学元件可以用来产生线性偏振光（）

A.偏振片

B.偏振棱镜

C.偏振光栅

D.以上都是

23.下列哪种方法可以用来测量光学系统的像质（）

A.像质计法

B.扫描电镜

C.光栅干涉仪

D.双折射仪

24.在光学测量中，用于测量物体表面微小形变的仪器是（）

A.扫描电镜

B.光栅干涉仪

C.透射式显微镜

D.双折射仪

25.以下哪种光学元件可以用来产生圆偏振光（）

A.偏振片

B.偏振棱镜

C.偏振光栅

D.以上都是

26.在光学测量中，用于测量光学材料的吸收系数的仪器是（）

A.分光光度计

B.扫描电镜

C.光栅干涉仪

D.双折射仪

27.以下哪种方法可以用来测量光学系统的光束质量（）

A.光束质量分析仪

B.扫描电镜

C.光栅干涉仪

D.双折射仪

28.在光学测量中，用于测量物体表面微小位移的仪器是（）

A.扫描电镜

B.光栅干涉仪

C.透射式显微镜

D.双折射仪

29.以下哪种光学元件可以用来产生椭圆偏振光（）

A.偏振片

B.偏振棱镜

C.偏振光栅

D.以上都是

30.在光学测量中，用于测量光学系统色散的仪器是（）

A.