光纤工程中的衰减测试.pdfVIP

波长选择():

因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等)，测试波长一般遵

循与系统传输通信波长相对应的原则，即系统开放1550波长，则测试波长为

1550nm。

(2)脉宽(PulseWidth):

脉宽越长，动态测量范围越大，测量距离更长，但在OTDR曲线波形中产生

盲区更大;短脉冲注入光平低，但可减小盲区。脉宽周期通常以ns来表示。

(3)测量范围(Range):

OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离，此参数的选择决定了

取样分辨率的大小。最佳测量范围为待测光纤长度1.5~2倍距离之间。

(4)平均时间:

由于后向散射光信号极其微弱，一般采用统计平均的方法来提高信噪比，

平均时间越长，信噪比越高。例如，3min的获得取将比1min的获得取提高

0.8dB的动态。但超过10min的获得取时间对信噪比的改善并不大。一般平均

时间不超过3min。

(5)光纤参数:

光纤参数的设置包括折射率n和后向散射系数n和后向散射系数η的设置。

折射率参数与距离测量有关，后向散射系数则影响反射与回波损耗的测量结果。

这两个参数通常由光纤生产厂家给出。

即可发送光脉冲并接收由光纤链路散射和反射回来的

光，对光电探测器的输出取样，得到OTDR曲线，对曲线进行分析即可了解光纤

质量。

2经验与技巧

(1)光纤质量的简单判别:

正常情况下，OTDR测试的光线曲线主体(单盘或几盘光缆)斜率基本一致，

若某一段斜率较大，则表明此段衰减较大;若曲线主体为不规则形状，斜率起伏

较大，弯曲或呈弧状，则表明光纤质量严重劣化，不符合通信要求。

(2)波长的选择和单双向测试:

1550波长测试距离更远，1550nm比1310nm光纤对弯曲更敏感，1550nm比

1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm测的熔接或连接器损耗更高。在

实际的光缆维护工作中一般对两种波长都进行测试、比较。对于正增益现象和

超过距离线路均须进行双向测试分析计算，才能获得良好的测试结论。

(3)接头清洁:

光纤活接头接入OTDR前，必须认真清洗，包括OTDR的输出接头和被测活

接头，否则插入损耗太大、测量不可靠、曲线多噪音甚至使测量不能进行，它

还可能损坏OTDR。避免用酒精以外的其它清洗剂或折射率匹配液，因为它们可

使光纤连接器内粘合剂溶解。

(4)折射率与散射系数的校正:就光纤长度测量而言，折射系数每0.01的偏

差会引起7m/km之多的误差，对于较长的光线段，应采用光缆制造商提供的折

射率值。

(5)鬼影的识别与处理:

在OTDR曲线上的尖峰有时是由于离入射端较近且强的反射引起的回音，这

种尖峰被称之为鬼影。识别鬼影:曲线上鬼影处未引起明显损耗;沿曲线鬼影与

始端的距离是强反射事件与始端距离的倍数，成对称状。消除鬼影:选择短脉冲

如OTDR输出端)中增加衰减。若引起鬼影的事件位于光纤

终结，可打小弯以衰减反射回始端的光。

(6)正增益现象处理:

在OTDR曲线上可能会产生正增益现象。正增益是由于在熔接点之后的光纤

比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。事实上，光纤在这一熔接

点上是熔接损耗的。常出现在不同模场直径或不同后向散射系数的光纤的熔接

过程中，因此，需要在两个方向测量并对结果取平均作为该熔接损耗。在实际

的光缆维护中，也可采用≤0.08dB即为合格的简单原则。

(7)附加光纤的使用:

附加光纤是一段用于连接OTDR与待测光纤、长300~2000m的光纤，其主要

作用为:前端盲区处理和终端连接器插入测量。

一般来说，OTDR与待测光纤间的连接器引起的盲区最大。在光纤实际测量

中，在OTDR与待测光纤间加接一段过渡光纤，使前端盲区落在过渡光纤内，而

待测光纤始端落在OTDR曲线的线性稳定区。光纤系统始端连接器插入损耗可通

过OTDR加一段过渡光纤来测量。如要测量首、尾两端连接器的插入损耗，可在

每端都加一过渡光纤。

3/测试误差的主要因素

1)OTDR测试仪表存在的固有偏差

由OTDR