一种检测铁调素的方法和试剂盒[发明专利] .pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN102809599A

(43)申请公布日2012.12.05

(21)申请号201110149663.6

(22)申请日2011.06.03

(71)申请人国家纳米科学中心

地址100190北京市海淀区中关村北一条

11号

(72)发明人聂广军T·胡范佳赵宇亮

M·弗拉里

(74)专利代理机构北京润平知识产权代理有限

公司11283

代理人陈小莲王凤桐

(51)Int.Cl.

G01N27/62(2006.01)

权利要求书1页说明书9页附图2页

权利要求书1页说明书9页附图2页

(54)发明名称

一种检测铁调素的方法和试剂盒

(57)摘要

本发明提供了一种检测铁调素的方法，该方

法包括如下步骤：(1)将样品液体与纳米芯片接

触后，去除样品液体，得到接触样品后的纳米芯

片；所述样品液体含有铁调素或不含有铁调素；

(2)用洗脱液洗脱接触样品后的纳米芯片，得到

洗脱产物；所述洗脱液能够溶解铁调素；(3)获取

步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果；(4)根

据所述质谱检测结果确定洗脱产物中是否含有铁

调素或者确定洗脱产物中铁调素的含量。本发明

还提供了一种检测铁调素的试剂盒，该试剂盒包

括：(i)样品稀释液，所述样品稀释液含有水、三

氟乙酸和乙腈；(ii)纳米芯片。本发明提供的检

测铁调素的方法，显著地提高了基于质谱的铁调

素检测方法的灵敏度和准确度。

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权利要求书

CN102809599A1/1页

1.一种检测铁调素的方法，其中，所述方法包括如下步骤：

(1)将样品液体与纳米芯片接触后，去除样品液体，得到接触样品后的纳米芯片；所述

样品液体含有铁调素或不含有铁调素；

(2)用洗脱液洗脱接触样品液体后的纳米芯片，得到洗脱产物；所述洗脱液能够溶解

铁调素；

(3)获取步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果；

(4)根据所述质谱检测结果，确定洗脱产物中是否含有铁调素，或者确定洗脱产物中铁

调素的含量；

步骤(1)中，所述纳米芯片包括基片和附着在所述基片上的多孔氧化硅涂层，所

述多孔氧化硅涂层的平均孔径为3.65-3.75nm，所述多孔氧化硅涂层的比表面积为

2

1050-1200m/g，所述多孔氧化硅涂层具有轴向平行的多个孔道，且所述多个孔道中的7个

孔道形成一个孔道组，每个孔道组包括一个中心孔道和与该中心孔道相邻并围绕该中心孔

道的6个周边孔道，该6个周边孔道的截面中心连线形成正六边形。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多孔氧化硅涂层的表面的接触角小于15度。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(1)中，所述接触的条件包括：接触的温度

为10-37℃，接触的时间为20-60分钟。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其中，所述样品液体含有样品和样品稀

释液；所述样品稀释液含有水、三氟乙酸和乙腈。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，相对于1体积所述样品液体，所述样品稀释液的

用量使得三氟乙酸的用量为0.00005-0.00015体积且乙腈的用量为0.03-0.07体积；