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操千曲尔后晓声，观千剑尔后识器。——刘勰

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STM32ADC电压测试实验报告

一、实验目的

1.了解STM32的基本工作原理

2.通过实践来加深对ARM芯片级程序开发的理解

3.利用STM32的ADC1通道0来采样外部电压值值，并在TFTLCD模块上显示出来

二、实验原理

STM32拥有1~3个ADC，这些ADC可以独立使用，也可以使用双重模式（提高采样率）。STM32

的ADC是12位逐次逼近型的模拟数字转换器。它有18个通道，可测量16个外部和2个内部信号

源。各通道的A/D转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行。ADC的结果可以左对齐或右对齐方

式存储在16位数据寄存器中

接下来，我们介绍一下执行规则通道的单次转换，需要用到的ADC寄存器。第一个要介绍的是

ADC控制寄存器（ADC_CR1和ADC_CR2）。ADC_CR1的各位描述如下：

ADC_CR1的SCAN位，该位用于设置扫描模式，由软件设置和清除，如果设置为1，则使用扫描

模式，如果为0，则关闭扫描模式，ADC_CR1[19:16]用于设置ADC的操作模式

我们要使用的是独立模式，所以设置这几位为0就可以了。

第二个寄存器ADC_CR2，该寄存器的各位描述如下：

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ADCON位用于开关AD转换器。而CONT位用于设置是否进行连续转换，我们使用单次转换，所以CONT

位必须为0。CAL和RSTCAL用于AD校准。ALIGN用于设置数据对齐，我们使用右对齐，该位设置为0。

EXTSEL[2:0]用于选择启动规则转换组转换的外部事件，我们这里使用的是软件触发（SWSTART），所以

设置这3个位为111。

第三个要介绍的是ADC采样事件寄存器（ADC_SMPR1和ADC_SMPR2），这两个寄存器用于设置通道

0~17的采样时间，每个通道占用3个位

对于每个要转换的通道，采样时间建议尽量长一点，以获得较高的准确度，但是这样会降低ADC的

转换速率。ADC的转换时间可以由下式计算：

Tcovn=采样时间+12.5个周期

第四个要介绍的是ADC规则序列寄存器（ADC_SQR1~3）,

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第五个要介

绍的是ADC规则数据寄存器(ADC_DR)。

最后一个要

介绍的ADC寄存器为ADC状态寄存器（ADC_SR），该寄存器保存了ADC转换时的各种状态。

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三．实验内容

一．实验步骤

1）开启PA口时钟，设置PA0为模拟输入。

STM32F103RBT6的ADC通道0在PA0上，所以，我们先要使能PORTA的时钟，然后设置PA0为模拟

输入。

2）使能ADC1时钟，并设置分频因子。

要使用ADC1，第一步就是要使能ADC1的时钟，在使能完时钟之后，进行一次ADC1的复位。接着

我们就可以通过RCC_CFGR设置ADC1的分频因子。分频因子要确保ADC1的时钟（ADCCLK）不要超过

14Mhz。

3）设置ADC1的