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微束分析 扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法 编制说明.docx

微束分析 扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法 编制说明.docx

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《微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》

编制说明(征求意见稿)

一、工作简况

1.1任务来源

2024年5月31日,国家标准化管理委员会发布文件“《国家标准化管理委员会关于下达2024年第三批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计划的通知》(国标委发[2024]25号)?,下达了《微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》的修订任务。计划编号T-469,由中国科学院地质与地球物理研究所负责组织实施。项目周期为16个月。

1.2编制工作简介

计划下达后,中国科学院地质与地球物理研究所牵头成立了标准编制工作组,进行标准修订工作。标准修订工作组由中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院和中国科学院化学研究所等单位的专家组成,主要成员包括:毛骞、范光、王岩华、曾荣树、原江燕。

工作组具体分工如下:

组长:毛骞,执笔标准文稿起草、组织讨论和修改及协调工作;

组员:范光、王岩华、曾荣树、原江燕,负责标准文稿的起草、讨论和修改。

1.3标准编制过程

起草阶段:工作组在完成国际标准ISO15632:2021通译稿的基础上,对比现行国家标准GB/T20726-2015《微束分析电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》,研究其中的差异,几经讨论修改,于2024年10月完成征求意见初稿。在征询部分业内专家意见后,再度修改于2024年12月形成《微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》征求意见稿,提交TC38标委会。

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二、编制原则、内容要点及依据

2.1标准制订的原则

该标准按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》和GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分:以ISO/IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》的规定起草。

能谱仪是电子探针、扫描电镜等微束分析仪器上普遍配置的附属设备,其性能由现行国家标准GB/T20726-2015《微束分析电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》规范。该标准系对国际标准ISO15632:2012的采标,已实施近十年。为适应近年来仪器的发展,对应的国际标准已经修订发布(ISO15632:2021),名称修改为“微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法”,增加了“零峰”等术语,并对某些限定条款作了调整。此项国家标准修订,仍采用等同采标的方式进行。

2.2标准修订的主要内容

本标准拟代替现行的GB/T20726—2015《微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》。与GB/T20726—2015相比,除结构调整和编辑性改动外,本标准的主要技术变化如下:

——更改了“死时间”的定义,使之更为详细(见3.4,2015版的3.4);——增加了“术语和定义”的内容:零峰(见3.14);

——更改了要求条款,部分条款的能愿动词由“应”更改为“宜”(见4.1、4.3);部分由“可”更改为“应”(见4.2、4.4、4.5)。

三、主要试验或验证结果

本标准等同采用国际标准ISO15632:2021“微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法”,未另行试验。

四、标准水平

4.1采用国际标准及国外先进标准的程度

本标准等同采用国际标准ISO15632:2021“微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法”。

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4.2与国际标准及国外同类标准水平的对比

本标准等同采用国际标准ISO15632:2021“微束分析扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法”。

4.3与现有标准及修订中的标准协调配套情况

本标准与现有标准及修订中的标准协调配套,无重复交叉现象。

4.4涉及国内外专利及处置情况

本标准没有涉及国内外任何专利或知识产权。

4.5预期效果

本标准修订后,能更好规范能谱仪性能参数及其核查,为国内电子探针、扫描电镜用能谱仪的生产、应用、贸易验收等提供标准依据。

五、与有关的现行法

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