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辐射监测--γ剂量测量电离法测X、γ射线剂量照射量的标准测量方法吸收剂量的测量方法照射量的标准测量方法自由空气电离室ρ＝1.292kg·m-3准确度根据以上公式得到的测量结果还需对射线束在光阑和收集体积之间的减弱，离子复合过程造成的离子对损失，以及入射辐射的散射等进行修正。考虑到全部有关因素后，用自由空气电离室测量照射量的准确度约在1％以内被测能量限制大气压下的自由空气电离室已被用作照射量的标准计量装置。但是适用的X或γ射线的能量范围一般限于50keV～3MeV之间，当射线能量大于3MeV时，由于次级电子射程较长，为满足电子平衡条件需要建立一个很大的自由空气电离室或高气压的电离室。这在技术上有较大的困难。当能量低于50keV时的X或γ射线，因空气吸收严重，以至测量误差较大。目前，较高能量的X或γ射线的照射量的测量，大多采用“空腔电离室”空腔电离室根据布拉格－戈瑞原理做成的空腔电离室,当上述假设条件得到满足时Dm＝qg(Wg/e)空腔电离室＝＝一般材料换成室壁材料：mWDw＝qg(Wg/e)空腔电离室空腔电离室用来测量照射量的空腔可以充入任何适当气体，只要各项参数能够求得就可。最理想的情况是使用空气等效电离室，即室壁材料、腔内气体完全与空气等效X＝qg＝空腔电离室在一级近似条件下，式中的与相关物质的有效原子序数Ze、原子量（或分子量）A有如下关=(Ze/A)w/(Ze/A)g空腔电离室假定空腔内气体为空气辐射监测—中子剂量测量中子剂量测量中子剂量测量和γ射线一样，都是基于它们与物质相互作用时所产生的次级带电粒子的电离效应。不过，中子与物质作用所产生的次级粒子种类繁多（如α粒子、质子和γ光子等），而且中子与物质作用截面随中子能量变化十分复杂。不同能量中子的辐射权重因子wR也相差较大。所以，中子剂量的测量要比γ射线困难得多中子吸收剂量的测量用空腔电离室测量中子剂量仍然是中子吸收剂量测量中比较准确的方法。但是，由于中子与物质作用所产生的次级带电粒子（如质子）射程非常短，要使电离室空腔的线度比这些次级带电粒子射程小很多，实际上是难以做到的。因此，需要使用匀质电离室，亦即电离室室壁和腔内气体由相同的原子组成，这时电离室壁和腔内气体对入射中子有相同的质量能量转移系数，对次级带电粒子也有相同的质量碰撞阻止本领。中子吸收剂量的测量如果用组织等效匀质电离室，则能直接测量组织中的吸收剂量DTDT＝qg()qg是空腔内单位质量组织等效气体中产生的电离电荷，C·kg-1，其它量的意义同前中子吸收剂量的测量在实际测量中，为了区分中子、γ混合场中的中子和γ射线的剂量，可以采用双电离室，其中一个电离室内没有含氢材料，它对中子不灵敏，而另一个电离室含有氢材料，它对中子、γ都是灵敏的。于是，利用这两个电离室的读数差别就可以分别测出中子和γ射线的吸收剂量。如果使用正比计数器进行中子剂量的测量，则可以用脉冲幅度甄别法消除γ射线的影响中子剂量当量的测量在辐射防护中，需要测出以Sv为单位的剂量当量。原则上可使用空腔电离室分别测出辐射场中不同能量范围内的中子吸收剂量，然后乘以相应的辐射权重因子wR，最后相加，其结果就是要求的剂量当量。如果辐射场中的中子能谱不清楚，则希望设计一种特殊的中子探测器，使它所显示的剂量当量（或剂量当量率）值与中子能谱无关。下面简要讨论后一种仪器的工作原理中子剂量当量的测量当中子束作用于机体时，根据中子能量En和对应的辐射权重因子wR，可以计算出不同能量的单位中子注量在组织中的剂量当量因子fH值。于是，只需要知道辐射场的中子能谱，即可用下式算出剂量当量中子剂量当量的测量但是，实际上中子能谱往往是不清楚的。这时，需在一定能量范围内，调整仪器的响应，使仪器的探测效率η(En)正比于。这样，辐射场中探测器测到的中子数率Nn，即正比于中子的剂量当量中子剂量当量的测量Nn=K=K中子剂量当量的测量根据这一原理，测量剂量的方法有两种：一种是利用中子在某些含氢物