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金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价.pdfVIP

金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价.pdf

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第36卷第1期:0054—0056电力电容器与无功补偿Vo1.36,No.1:0054-0056

2015年2月PowerCapacitorReactivePowerCompensationFeb.2015

DOhl0.14044j/.1674-1757.pcrpc.2015.01.012

金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价

陈才明

(宁波新容电器科技有限公司,浙江宁波315202)

摘要:电容器的损耗是由介质损耗和金属损耗二部分组成,损耗角正切(tanB)是金属化薄膜电容

器重要技术参数,如果通过测试能找出引起损耗超标的原因,将有利于产品质量的持续改进提高。

通过简化电容器的等效电路和采用不同频率的测量分析。可定性判定损耗角正切超标的原因,同时

指出测量金属化薄膜电容器损耗角正切(ta)应着重于产品的一致性和试验后增量,对于追求“越

小越好”的观点需要改变

关键词:金属化薄膜电容器;损耗角正切;介质损耗;金属损耗

MeasurementandEvaluationontan8ofMetalizedFilmCapacitor

CHENCaiming

(NingboShineElectricalTechnologiesCo.,Ltd.,Ningbo315202,China)

Abstract:Thelossofcapacitorismadeupofsuchtwopartsasdielectriclossandmetallossandtangent

oflossangle(tan8)isimportanttechnicalparalmetersofmetalizedfilmcapacitor.Ifthereasonofwhich

thelossexceedsthespecifiedvaluecanbefoundoutbytest.itwillbehelpfulinsustainingimprovement

oftheproductquality.Thereasonoftan8exceedingthespecifiedvaluecanbequalitativelyjudgedby

wayofsimplifyingtheequivalentcircuitofcapacitorandofusingmeasurementanalysisatdifferent

frequenciesand,atthesametime,theproduct’Sconsistencyandincrementafterthetestinthemeasurement

oftan8metalizedfilmcapacitorshouldbefocusedandsuchideaast‘hesmallerthebetter’shouldbe

changed.

Keywords:metalizedfilmcapacitor;tan8;dielectricloss;metalloss

极化引起的极化损耗和局部放电引起的损耗I3]。损

O引言

耗角正切(tan~)dx,有功消耗引起的发热就小,电容

电容器在工作过程因发热而消耗的能量叫电器的使用寿命就长。在工程实际测试中能否区分两种

容器的损耗。由于电容器损耗的存在,使加在电容损耗和追求小的损耗角正切是制造方和使用方共同

器的电压与电流之间的夹角(相位角)不是理想的的目标,所以对损耗角正切的测量与评价很有必要。

90。,而是偏离了一个度,这个角就称为电容器

1电容器的等值电路

的损耗角,它

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