仪器分析第三章发射光谱.pptVIP

影响谱线强度的因素：02统计权重谱线强度与激发态和基态的统计权重之比成正比。跃迁几率谱线强度与跃迁几率成正比。跃迁几率是一个原子在单位时间内两个能级之间跃迁的几率，可通过实验数据计算。Iij=NiAijh?ijNi=N0gj/g0e(-E/kT)0101添加标题激发电位和电离电位谱线强度与激发电位成负指数关系。在温度一定时，激发电位越高，处于该能量状态的原子数越少，谱线强度越小。激发电位最低的共振线通常是强度最大的线。02添加标题影响谱线强度的因素：03添加标题Iij=NiAijh?ij=N0gj/g0e(-E/kT)NiAijh?ij影响谱线强度的因素：温度升高，谱线强度增大。但温度升高，电离的原子数目也会增多，而相应的原子数减少，致使原子谱线强度减弱，离子的谱线强度增大。谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条件下，基态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此，在一定的条件下谱线强度与被测元素浓度成正比，这是光谱定量分析的依据。激发温度基态原子数激发电位和电离电位Ej在T一定时，E，Ni，Iij。激发电位最低的共振线通常是强度最大的线。试样浓度CIij正比于Ni。在一定的条件下，C，Iij。激发温度TT，Iij。但温度升高，原子电离增多，原子数减少，使原子谱线强度减弱，离子的谱线强度增大。发射线的强度Iij=NiAijh?ijAij:i、j两能级间的跃迁几率，?ij:发射谱线的频率。4、原子发射光谱图元素标准光谱图5、谱线的自吸和自蚀自吸和自蚀影响自吸和自蚀的因素谱线的固有强度弧层厚度溶液浓度自吸和自蚀ba发射光谱是通过物质的蒸发、激发、迁移和射出弧层而得到的。在一般光源中，是在弧焰中产生的，弧焰具有一定的厚度，如下图：自吸和自蚀弧焰中心a的温度最高，边缘b的温度较低。由弧焰中心发射出来的辐射光，必须通过整个弧焰才能射出，由于弧层边缘的温度较低，因而这里处于基态的同类原子较多。这些低能态的同类原子能吸收高能态原子发射出来的光而产生吸收光谱。原子在高温时被激发，发射某一波长的谱线，而处于低温状态的同类原子又能吸收这一波长的辐射，这种现象称为自吸现象。ab发射谱线的宽度比吸收谱线的宽度大，所以，谱线中心的吸收程度要比边缘部分大，因而使谱线出现“边强中弱”的现象。当自吸现象非常严重时，谱线中心的辐射将完全被吸收，这种现象称为自蚀。1无自吸；2自吸；3自蚀影响自吸和自蚀的因素谱线的固有强度弧层厚度溶液浓度小结发射光谱的分析过程：试样蒸发、激发产生辐射→色散分光形成光谱→检测、记录光谱→根据光谱进行定性或定量分析定性分析：特征谱线的波长定量分析：特征谱线的强度（黑度），主要的发射光谱的分析基础：二、原子发射光谱的分析仪器01光源02分光系统03信号显示系统检测器光源作用：提供稳定，重现性好的能量，使试样中的被测元素蒸发、解离、原子化和激发，产生电子跃迁，发生光辐射要求：具有足够的蒸发、解离、原子化和激发能力；灵敏度高，稳定性好，光谱背景小；结构简单，操作方便，使用安全常用光源：电弧（直流，交流），电火花，等离子体光源（ICP），激光等常用光源性能比较分光系统作用：将激发试样所获得的复合光，分解为按波长顺序排列的单色光常用的分光元件：棱镜，光栅检测器作用：接受、记录信号常用的检测方法：目视法，摄谱法，光电法摄谱仪：（利用照相机方式记录谱线）棱镜；光栅大型（分析具有复杂光谱的物质）中型（一般元素分析）小型（简单分析）映谱仪(光谱投影仪)：放大。测微光度计(黑度计)：用于定量分析。PQExCell等离子体质谱仪(ICP/MS)厦门联发（集团）象屿有限公司Agilent7500系列ICP-MS三、发射光谱分析方法01定性分析方法单击此处添加正文，文字是您思想的提炼，请尽量言简意赅地阐述观点。02半定量分析方法单击此处添加正文，文字是您思想的提炼，请尽量言简意赅地阐述观点。03定量分析方法(元素的特征谱线的波长)(元素的特征谱线的强度)（一）定性分析方法原理灵敏线：各种元素谱线中最容易激发或激发电位较低的谱线共振线：激发态直接跃迁至基态时所辐射的谱线最后线：最后消失的谱线例10%Cd溶液谱线14条1%Cd溶液