T CSTM 00990—2023 毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法 准光腔法.pdfVIP

ICS31.180

CCSL30

团体标准

T/CSTM00990—2023

毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测

试方法准光腔法

Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentinmillimeterwave

frequencyrange—Quasi-opticalcavitymethod

2023-04-07发布2023-07-07实施

中关村材料试验技术联盟发布

言2

引言3

1范围4

2规范性引用文件4

3术语和定义4

4符号和缩略语4

5原理5

6环境条件5

7仪器设备5

8样品要求6

9测试步骤6

9.1样品预处理6

9.2仪器准备6

9.3样品尺寸测量6

9.4常温测试6

9.5高温测试6

9.6低温测试7

10计算7

10.1介电常数温度系数7

10.2介质损耗角正切温度系数7

11系统误差8

12注意事项8

13试验报告8

附录A（资料性）介电常数和介质损耗角正切测试原理9

附录B（资料性）测试系统连接框图12

附录C（资料性）起草单位和主要起草人13

前言

本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T

20001.4—2015《标准编写规则第4部分：试验方法标准》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）提出。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）归口。

引言

介电常数和介质损耗角正切影响着高速高频电路的关键性能，尤其是在毫米波频段上。因此，非常

有必要建立准确测量毫米波频段介质基板介电常数和介质损耗角正切的标准方法。本文件采用准光腔法

进行测试，规定25GHz~110GHz宽带范围内的介电常数和介质损耗角正切以及介电常数温度系数和损

耗因子温度系数的测试方法。基于GB/T9534-88改进优化的内容：

a）根据发展需求，增加复介电常数的温漂测试（TCDk、TCDf）（-65℃~125℃）规定，补充国家

标准的空白；

b）细化了测试步骤，提高测试的一致性和可重复性；

c）描述了在试验过程中影响试验结果的注意事项。

毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法准光腔测试法

重要提示：使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问

题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。

1范围

本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法，包括原理、环

境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。

本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。

频率测试范围：=25GHz~110GHz；

介电常数测试范围：=2.0~20.0；

损耗角正切值测试范围：tan=1.0×10−4~1.0×10−2；

温度测试范围：-65℃~125℃。

2规范性引用文件