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GB/TXXXXX-XXXX
附录A稀土荧光片的外形尺寸与外观质量检测
(规范性)
A.1设备
本检验所需设备包括量测厚度的千分表、具有规定放大倍数的并具有量测功能的光学仪器和作为目
检判据的标准样品或图样、照片等,使操作者能对受检荧光片的接收与否做出客观的判断。此外还需要
有利于荧光片检查而又不使荧光片受到损伤的合适夹具。
A.2程序
A.2.1通则
A.2.1.1环境要求
荧光片应在相对湿度60%,温度在10-30℃的ISO8级的净化环境中进行检测。
A.2.1.2光学显微镜放大倍数
除另有规定外,采用放大倍数20倍~300倍的单目、双目或立体显微镜进行检验,操作人员使用不
损坏荧光片的工具,在适当的照明下进行检验,以确定稀土荧光片是否符合规定的要求。
A.2.1.3量测精度
上述单目、双目或立体显微镜需具有量测功能,且量测精度不低于1%,量测厚度的千分表量测精
度也不低于1%。
A.2.2检验顺序
承制方可自行安排检验顺序。
A.2.2.1厚度的量测
稀土荧光片的厚度量测采用接触式量测,具体方法如下:稀土荧光片放置测试平台的基准面上,中
心点厚度作为稀土荧光片的标称厚度,利用千分表的探头按规定图形(见图A.1)的路径沿x和y两个
方向量测荧光片的表面,进行厚度测量。距离边缘30μm处开始取点,至少每500μm取一点测量厚度,
测量值中的最大厚度与最小厚度的差值即为单颗稀土荧光片的厚度变化。
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Y方向
X方向
图A.1非接触式扫描量测稀土荧光片的路径
A.2.2.2外形尺寸
使用准确度符合要求的量具测量稀土荧光片的尺寸。外观尺寸应在规定值的公差范围内,超规即为
不合格。
A.2.2.3外观检查
荧光片不得有明显孔洞、崩边、裂纹异物等缺陷。具体外观缺陷控制标准如表A.1。
表A.1荧光片的外观缺陷控制范围及检测方法
缺陷类型缺陷示意图说明要求检测工具
长轴方向
不准许
长度>50μm
孔洞
有同轴检测
30μm≤长轴方向不超过10处/光源,且具有
长度≤50μm颗量测功能,量
测精度不低
于1%的光学
显微镜,倍数
可放大至300
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