《金相分析基础》——课件：金相试样制备常见的问题及解析.pptxVIP

金相分析基础金相试样制备常见的问题及解析

一、磨面不平?指试样磨面出现多个平面或者有弧面?产生原因是磨制过程中用力不均。?这种缺陷的组织图像特点是整个视场中只有部分区域组织清晰。

一、磨面不平?避免：在磨制中需要单程磨制，轻按?试样顶面匀速推动，时刻保证试样平稳。?消除：若有局部出现坡面则在此处适当增加力度。

二、曳尾产生曳尾的原因，一方面是长时间单方向抛光，使材料中的某种组织沿拋光方向变形；另一方面是拋光的压力过大导致试样与抛光布和抛光膏之间的摩擦力过大，使试样中较软的组织组成物被拽出但又不能在离心力的作用下被消除。曳尾的关键工序是抛光。

二、曳尾避免：刚开始抛光时握稳试样轻压在抛光盘的中心，沿径向移动到抛光盘边缘以增加线速度，当握持试样稳定后适当增加抛光压力，并逆着抛光盘的方向自转试样，在抛光即将结束时，在旋转试样的同时缓慢地使试样从抛光盘的边缘向中心移动并保持旋转以降低拋光线速度，同时缓慢减小压力至中心时几乎力为0，并从抛光盘的中心提起试样。

三、嵌入?指硬的研磨颗粒固定在软试样的表面的现象。?小颗粒比大颗粒更容易嵌入。?消除：降低抛光载荷、转速和时间。避免使用粒度小的SiC砂纸和金刚石悬浮液。?（例如3μm的金刚石抛光膏比悬浮液避免嵌入的效果要好的多）

四、划痕?指试样表面的线性凹槽。?划痕主要是磨制和抛光过程中形成的，磨制过程中砂纸上脱落的砂粒易在试样表面留下较深的划痕；如果磨制时的砂粒带到了拋光布或抛光剂上也会产生新的划痕。或抛光时间过短未消除最细一号砂纸留下的划痕。

四、划痕?为了消除划痕，粗磨时间应较长，以彻底消除切割试样留下的变形层?更换砂纸时，一定要清理干净玻璃板，试样旋转90°，每一号砂纸应将上一号砂纸留下的划痕消除。

五、拔出?指试样第二相微粒被除去（无论第二相微粒比基体硬还是软）的现象原因：在SiC砂纸上研磨时间过长，抛光时间过长，载荷过大。消除：使用无绒抛光布，降低抛光载荷，使用合适的润滑剂

六、污染指试样磨光、抛光时研磨颗粒或润滑剂的交互作用下，污染物残渣会聚集在第二相微粒周围。或者由于清洁或干燥不当，腐蚀剂和溶剂的交互作用下，污染物残渣聚集在基体周围。

六、污染指试样磨光、抛光时研磨颗粒或润滑剂的交互作用下，污染物残渣会聚集在第二相微粒周围。或者由于清洁或干燥不当，腐蚀剂和溶剂的交互作用下，污染物残渣聚集在基体周围。

六、污染消除：重新抛光腐蚀。抛光前，试样和抛光布都要清洗干净。腐蚀后用酒精冲洗磨面并热风吹干。

七、表面变形表面变形是在切割试样时冷加工留下的，后面磨抛过程中如果用力过大，抛光时间过长，也会产生变形。变形是一种特别严重的缺陷和假象。

七、表面变形消除：磨制时用力适当，增加粗磨时间，细磨和抛光时不要用力过大（以免产生新的变形），抛光时间不要过长，可采用腐蚀和抛光交替进行的方法。

八、腐蚀过浅?原因：腐蚀时间短，肉眼看试样磨面还很光亮?特点：显微镜下观察组织衬度不明显，组织显示不清晰，例如图中是60钢的平衡组织（F+P），在500倍放大倍数下，区分不到晶界和珠光体的片层组织。?消除：继续腐蚀，看到磨面变灰色，停止腐蚀用流水冲洗干净。

九、腐蚀过深?原因：腐蚀时间过长，肉眼看试样磨面呈深灰色甚至是黑色。?特点：显微镜下观察组织衬度也不明显，组织显示模糊一团不清晰，例如上图中是60钢的平衡组织（F+P），在500倍放大倍数下，同样区分不到晶界，甚至不能确定组织类型。?下图是工业纯铁的过腐蚀组织，出现双晶界。

九、腐蚀过深?原因：腐蚀时间过长，肉眼看试样磨面呈深灰色甚至是黑色。?特点：显微镜下观察组织衬度也不明显，组织显示模糊一团不清晰，例如上图中是60钢的平衡组织（F+P），在500倍放大倍数下，同样区分不到晶界，甚至不能确定组织类型。?下图是工业纯铁的过腐蚀组织，出现双晶界。

九、腐蚀过深?消除：重新抛光再腐蚀。腐蚀时观察磨面变灰，马上流水冲洗干净，再酒精冲洗，吹干。严重的过腐蚀要用细砂纸磨再抛光腐蚀。

优质金相试样优质金相试样的磨面组织：①组织清晰、晶界明显、浸蚀均匀适度；②无假象、无划痕、无水迹、无嵌入、无坑点、无曳尾；③夹杂物、石墨等第二相不脱落。

优质金相试样

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