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电子科技大学半导体物理期末考试试卷A试题答案.docxVIP

电子科技大学半导体物理期末考试试卷A试题答案.docx

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电子科技大学半导体物理期末考试试卷A试题答案

一、选择题(每题2分,共20分)

1.半导体的导电机制主要依靠的是:

A.电子和空穴

B.电子和离子

C.空穴和离子

D.自由电子

答案:A

2.以下哪种材料是典型的本征半导体?

A.硅

B.锗

C.砷化镓

D.所有上述都是

答案:D

3.N型半导体中,多数载流子是:

A.电子

B.空穴

C.离子

D.空穴和电子

答案:A

4.在PN结中,当正向偏置时,下列哪项现象会发生?

A.PN结变宽

B.PN结变窄

C.电流减小

D.电流不变

答案:B

5.下列哪种半导体材料适用于制作太阳能电池?

A.硅

B.锗

C.砷化镓

D.碳化硅

答案:A

二、填空题(每题2分,共20分)

6.半导体的导电能力介于________和________之间。

答案:导体,绝缘体

7.在掺杂半导体中,掺杂剂可以是________或________。

答案:施主,受主

8.PN结的伏安特性曲线中,正向偏置时,电流随电压________增加。

答案:指数

9.半导体材料中,电子的迁移率通常比空穴的迁移率________。

答案:高

10.半导体激光器的发光原理是________。

答案:电子与空穴的复合

三、计算题(每题10分,共30分)

11.已知某硅半导体在室温下的本征载流子浓度为\(n_i=1.5\times10^{10}\)cm^3,电子迁移率为\(\mu_n=1500\)cm^2/Vs,空穴迁移率为\(\mu_p=500\)cm^2/Vs。求该硅半导体的电导率。

解答:

电导率\(\sigma=q(n_i\mu_n+p_i\mu_p)\)

其中,\(q\)为电子电荷,\(q=1.6\times10^{19}\)C。

因此,\(\sigma=1.6\times10^{19}\times(1.5\times10^{10}\times1500+1.5\times10^{10}\times500)\)

计算得\(\sigma=360\Omega^{1}\cdotm^{1}\)

12.一个理想的PN结在室温下的反向饱和电流为\(I_s=10^{14}\)A。当施加正向偏压\(V=0.7\)V时,求通过PN结的电流。

解答:

利用公式\(I=I_se^{\frac{qV}{kT}}\)

其中,\(k\)为玻尔兹曼常数,\(k=1.38\times10^{23}\)J/K。

\(T\)为绝对温度,\(T=300\)K(室温)。

\(qV\)为\(1.6\times10^{19}\times0.7\)J。

计算得\(I\approx10^{3}\)A或1mA。

13.一个硅太阳能电池的开路电压为\(0.6\)V,短路电流为\(20\)mA。求该太阳能电池的填充因子。

解答:

填充因子\(FF=\frac{V_{OC}\timesI_{SC}}{P_{max}}\)

其中,\(P_{max}\)为最大输出功率,\(P_{max}=V_{OC}\timesI_{SC}\)

因此,\(FF=\frac{0.6\times20\times10^{3}}{0.6\times20\times10^{3}}=1\)

四、论述题(每题15分,共30分)

14.试述PN结的形成过程及其伏安特性。

解答:

(此处应详细描述PN结的形成过程,包括P型和N型半导体的接触、电中性条件的破坏、耗尽层的形成、内建电场的产生等。接着描述PN结的伏安特性,包括正向偏置和反向偏置下的电流变化、反向饱和电流、正向导通电压等。)

15.论述半导体超晶格的特性和其在光电子器件中的应用。

解答:

(此处应详细描述超晶格的结构特点、能带结构及其对电子态的影响。接着讨论超晶格在光电子器件中的应用,如半导体激光器、光检测器等,以及其优势。)

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