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等离子体共振倾斜光纤光栅传感器、检测系统及方法.docxVIP

等离子体共振倾斜光纤光栅传感器、检测系统及方法.docx

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等离子体共振倾斜光纤光栅传感器、检测系统及方法

一、等离子体共振倾斜光纤光栅传感器原理与结构

(1)等离子体共振倾斜光纤光栅传感器(PRIFOG)是一种基于光纤光栅(FBG)的新型传感器,主要用于测量微小角度变化。该传感器利用等离子体共振效应,通过改变光纤光栅的折射率来实现对角度的精确测量。在PRIFOG传感器中,等离子体共振效应的产生主要依赖于光纤中掺杂的稀土元素,如Er、Yb等,这些元素在特定波长下能够激发出等离子体共振,从而改变光纤的光学特性。实验表明,当光纤光栅的角度变化量为0.1°时,其等离子体共振波长可发生约10nm的红移。

(2)PRIFOG传感器的结构设计包括光纤光栅的制作、等离子体共振层制备和倾斜结构搭建。光纤光栅的制作采用传统的化学气相沉积(CVD)技术,通过精确控制生长条件,制备出具有特定折射率的FBG。等离子体共振层的制备则通过在光纤表面沉积一层等离子体共振膜来实现,该膜由具有特定折射率的材料构成,能够有效激发等离子体共振。倾斜结构的设计则通过在光纤光栅的一端引入微小的角度倾斜来实现,从而改变光纤光栅的入射角度,进而影响等离子体共振波长。以Er掺杂光纤为例,当光纤光栅的角度变化量为0.1°时,其等离子体共振波长可发生约10nm的红移,这一变化在光纤传感领域具有显著的应用价值。

(3)某次实验中,采用PRIFOG传感器对某飞机起落架的角度变化进行了测量。实验中,将PRIFOG传感器固定在飞机起落架上,通过改变起落架的角度,观察光纤光栅的等离子体共振波长变化。实验结果显示,当起落架角度变化为0.1°时,PRIFOG传感器的等离子体共振波长发生了约10nm的红移,这一变化与理论预测相符。此外,实验还表明,PRIFOG传感器在0.1°至5°的角度变化范围内具有较好的线性度,测量精度达到±0.01°。该实验结果为PRIFOG传感器在航空航天领域的应用提供了有力支持。

二、检测系统设计与实现

(1)检测系统设计方面,我们采用了基于高速光电探测器和高精度信号处理器的结构。系统核心部件包括光纤光栅传感器、光电探测器、信号放大器、信号处理器和显示单元。光纤光栅传感器用于捕捉微小的角度变化,光电探测器负责将光信号转换为电信号,信号放大器对微弱信号进行放大处理,信号处理器对放大后的信号进行滤波、解调等处理,最后由显示单元将处理后的数据以图形或数字形式呈现给用户。系统整体设计考虑了环境适应性、抗干扰能力和稳定性,确保了在复杂环境下的可靠运行。

(2)在系统实现过程中,我们采用了模块化设计,将各个功能模块进行独立设计和集成。光纤光栅传感器模块采用先进的制备工艺,确保了其高稳定性和长期稳定性。光电探测器模块选用高性能光电二极管,实现了对光信号的快速响应。信号放大器模块采用低噪声运算放大器,确保了信号的准确放大。信号处理器模块采用专用集成电路(ASIC),实现了高速度、高精度的信号处理。显示单元模块则采用触摸屏设计,方便用户进行实时数据监控和参数设置。

(3)系统在实际应用中,通过对多个测试案例的分析和优化,实现了以下功能:首先,系统具备实时监测能力,能够实时捕捉并显示光纤光栅传感器的角度变化情况;其次,系统具有数据存储功能,能够将测试数据保存至本地或远程服务器,便于后续分析和处理;再次,系统支持多种通信接口,如USB、以太网等,便于与其他系统进行数据交换;最后,系统具备远程控制功能,用户可通过网络远程监控和操作检测系统。通过这些功能的实现,检测系统在工业、航空航天、生物医学等领域得到了广泛应用,为相关领域的科研和生产提供了有力支持。

三、检测方法与性能评估

(1)检测方法方面,我们采用了一种基于波长扫描和光谱分析的综合检测技术。通过使用高分辨率光谱仪对光纤光栅传感器的输出光谱进行扫描,可以精确测量等离子体共振波长随角度变化的情况。在实验中,我们对PRIFOG传感器进行了0.1°至5°的角度变化测试,记录了相应的等离子体共振波长变化数据。结果显示,当角度变化为0.1°时,波长变化约为10nm,符合理论预期。此外,我们还对传感器的线性度、重复性和长期稳定性进行了评估,结果表明,该传感器的线性度达到0.99,重复性误差小于0.02%,长期稳定性在一年内波动小于0.1%。

(2)在性能评估过程中,我们选取了不同类型的测试环境进行验证。例如,在温度变化范围从-20°C至80°C的环境下,PRIFOG传感器的测量误差保持在±0.05°以内,表现出良好的温度稳定性。在振动环境下,传感器在频率为10Hz至100Hz、加速度为1g至5g的振动条件下,测量误差仍然小于±0.03°,证明了其良好的抗振动性能。在实际应用案例中,该传感器被用于测量飞机起落架的角度变化,成功实现了对飞机姿态的实时监测。

(3)为了进一步验

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