《芯片测试管理系统技术规范》征求意见稿.docx

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芯片测试管理系统技术规范

1范围

本文件规定了芯片测试管理系统的系统架构、功能组成、数据管理、技术要求、测试与验证、运维与升级的要求。

本文件适用于芯片测试中运用的测试管理系统的全流程设计、测试、使用、运维及升级。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

YD/T1886-2015移动终端芯片安全技术要求和测试方法

3术语和定义

SJ/T11399-2009、YD/T1886-2015界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1

芯片测试Chiptest

指对集成电路芯片的电气特性、功能特性、性能指标以及可靠性等方面进行检测、验证和评估的过程，包括晶圆测试（CP，CircuitProbing）、成品测试（FT，FinalTest）以及各种可靠性测试等。3.2

芯片测试管理系统Chiptestmanagementsystem

一种用于对芯片测试流程进行全面管理和控制的软件系统，涵盖测试计划制定、测试资源调配、测试任务执行、测试数据采集与分析、测试报告生成以及测试结果评估等功能模块，实现芯片测试全过程的信息化、自动化和规范化管理。

3.3测试用例Testcase

是针对芯片特定功能或特性设计的一组测试输入、执行条件和预期输出，用于验证芯片在特定情况下的正确性和稳定性。

4系统架构

4.1架构模式

4.1.1架构概述

芯片测试管理系统应采用分层架构与微服务架构相融合的混合架构模式。

4.1.2分层架构

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4.1.2.1用户界面层

应负责与用户进行直接交互，接收用户的输入指令并展示系统的输出结果。

4.1.2.2业务逻辑层

应负责封装和处理与芯片测试业务紧密相关的复杂流程和规则，协调各层之间的数据交互和业务协作。

4.1.2.3数据访问层

应负责与数据持久层进行交互，提供统一的数据访问接口，实现对数据的查询、插入、更新和删除等操作。

4.1.2.4数据持久层

应负责数据的持久化存储和管理。

4.1.3微服务架构

4.1.3.1测试计划管理微服务

应负责芯片测试计划的全生命周期管理，包括测试计划的创建、编辑、审核、发布以及版本控制等功能模块。

4.1.3.2测试执行微服务

应负责与各类芯片测试设备进行实时通信连接和交互，控制测试设备按预定测试计划和程序执行测试任务，并实时采集传输测试数据。

4.1.3.3测试数据分析微服务

应负责对采集到的测试数据进行深入的统计分析和挖掘，提供各种数据分析功能，

4.1.3.4资源管理微服务

应负责对测试过程中涉及的各类资源进行统一、高效的管理和调配，包括测试设备、测试人员、测试程序以及测试物料等。

4.2系统组件

4.2.1前端交互组件

4.2.1.1Web前端框架

4.2.1.1.1应采用Vue.js框架构建用户界面，结合ElementUI组件库实现交互效果与界面设计。

4.2.1.1.2用户应能通过浏览器访问和操作系统的各项功能。

4.2.1.2移动客户端框架

4.2.1.2.1应采用ReactNative框架开发移动应用程序。

4.2.1.2.2程序应能实现在移动设备上实时查看测试进度、接收测试任务通知以及上传简单的测试数据。

4.2.2业务服务组件

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4.2.2.1微服务框架

应采用SpringCloud作为后端微服务架构的基础支撑框架，实现微服务之间的服务注册与发现、负载均衡、熔断器以及分布式配置中心等关键功能。

4.2.2.2消息队列

应采kafka作为系统异步通信基础设施，实现数据的及时传递和处理。

4.2.3数据存储组件

4.2.3.1关系型数据库

应采用MySQL作为关系型数据库存储引擎存储结构化的核心业务数据。

4.2.3.2非关系型数据库

应采用MongoDB作为非关系型数据库存储方案存储非结构化或半结构化数据。

4.2.4系统集成组件

4.2.4.1设备驱动程序

应针对不同型号和品牌的芯片测试设备，开发专用设备驱动程序，实现系统与测试设备之间的稳定通信和精确控制。

4.2.4.2外部系统接口

接口设计应遵循行业通用数据交换格式和通信协议