【培训课件】ESD原理.pptVIP

**********************静电放电（ESD）原理静电放电是电子产品设计和制造过程中常见问题，对产品可靠性和使用寿命有重要影响。by课程目标了解静电放电(ESD)的基本原理和危害性。掌握ESD控制的基本方法和措施。熟悉ESD测试标准和测试方法。提高对ESD控制的重视，减少ESD造成的损失。静电discharge(ESD)是什么?静电放电(ESD)是一种现象，是指带静电物体之间的电荷突然释放，导致电流迅速流动。这种放电通常发生在两个电位不同的物体之间，导致电能突然释放，产生火花、热量或声音。ESD可能会损坏电子元器件，导致设备故障，甚至引发安全事故。ESD的危害数据丢失设备故障性能下降寿命缩短安全隐患生产成本增加ESD的危害(续)电路损坏ESD可导致电路元件损坏，造成设备故障甚至无法正常工作。数据丢失静电放电会导致存储介质中的数据丢失，造成信息损失和工作效率下降。ESD的成因1摩擦起电不同材料相互摩擦时，电子会从一个物体转移到另一个物体，导致物体带电。2接触起电当两种不同材料相互接触时，电子会从一个物体转移到另一个物体，导致物体带电。3感应起电当带电物体靠近不带电物体时，不带电物体内部的电荷会重新分布，导致物体带电。ESD产生的途径摩擦当两种不同材料相互摩擦时，电子会从一种材料转移到另一种材料，导致静电荷的积聚。感应当带电物体靠近不带电物体时，会感应出相反极性的静电荷。接触当两个带电物体相互接触时，静电荷会从高电位物体转移到低电位物体。ESD敏感设备集成电路静电放电可能损坏集成电路的内部结构，导致设备故障。微处理器微处理器对静电放电非常敏感，即使微小的放电也会导致数据丢失或损坏。存储器静电放电会导致存储器数据丢失或损坏，从而影响设备的功能。ESD敏感设备(续)集成电路集成电路对静电非常敏感，轻微的静电放电可能导致芯片损坏。半导体芯片半导体芯片是现代电子设备的核心，ESD会影响芯片的性能和寿命。ESD测试标准1IEC61340-5-1静电放电敏感电子元件测试标准2ANSI/ESDS20.20电子元件静电放电敏感性测试标准3MIL-STD-883军用电子元件静电放电敏感性测试标准ESD测试标准(续)测试标准描述IEC61340-5-1静电放电防护测试方法ANSI/ESDSTM1静电敏感器件的测试方法MIL-STD-1686军用电子设备的静电放电防护标准ISO10211静电放电敏感器件的测试方法静电的基本概念静电荷静电荷是指物体表面积累的电荷，由于电荷不平衡而产生。电势电势是指物体表面积累的静电荷的能量，单位为伏特(V)。电场电场是指带电体周围的空间，存在着静电力。静电放电静电放电是指带电物体与另一个物体或接地体之间发生电荷转移的过程。静电的基本概念(续)电荷静电是由于电荷的积累而产生的。原子原子包含带正电的质子和带负电的电子。静电荷当物体失去或获得电子时，就会产生静电荷。静电荷的产生1摩擦起电不同材料接触后分离，电子转移2接触起电两种不同电位物体接触，电荷转移3感应起电带电体靠近导体，电荷重新分布静电荷的积聚1摩擦起电不同的材料相互摩擦时，会发生电子转移，导致一个物体带正电，另一个物体带负电。2感应起电当带电物体靠近导体时，导体内部的电荷会重新分布，导致导体表面积聚静电。3接触起电当两个不同材料的物体接触时，电子会从电负性高的物体转移到电负性低的物体，导致静电荷积聚。静电荷的积聚(续)1摩擦起电不同材料接触后分离，电子转移导致电荷积累。2感应起电带电物体靠近导体，使导体表面产生异性电荷分布。3电荷注入静电场作用下，电子或离子注入绝缘体内部，形成电荷积聚。静电荷的转移1接触转移当两个不同材料的物体接触时，电子会从电负性较高的物体转移到电负性较低的物体，从而形成静电荷。2感应转移当带电物体靠近导体时，导体上的自由电子会受到带电物体的吸引或排斥，从而形成静电荷。3摩擦转移当两个物体相互摩擦时，会产生大量的静电荷，这些静电荷会通过摩擦力的作用转移到另一个物体。静电放电过程电荷积聚当物体表面积聚过量的静电荷时，就会形成电场。电场强度增加当电场强度达到一定程度时，就会发生放电现象。放电路径放电路径通常是沿着电场强度最高的路线进行的，例如空气中的离子化。电荷释放放电过程会释放能量，造成电击、损坏电子设备或引发火灾。静电放电过程(续)1电场形成当带电物体靠近接地物体时，会在物体之间形成电场。