《X射线的衍射》课件.pptVIP

*****************X射线的基本性质电磁波性质X射线是高能电磁波，波长范围在0.01-10纳米。穿透能力X射线具有强大穿透力，可穿过多种物质。电离作用X射线能引起物质电离，产生二次电子。布拉格的X射线衍射定律入射X射线X射线以特定角度照射晶体。晶面反射X射线被晶面反射，形成衍射图案。布拉格方程nλ=2dsinθ，描述衍射条件。晶体结构与X射线衍射的关系晶体周期性晶体的周期性结构是X射线衍射的基础。原子排列原子排列方式决定了衍射图案的特征。衍射强度衍射峰的强度与原子的种类和位置有关。晶体面间距与晶格常数的计算面间距公式d=a/√(h2+k2+l2)，适用于立方晶系。晶格常数通过衍射角θ和Miller指数(hkl)计算。精确测量利用高阶衍射峰提高晶格常数测量精度。X射线衍射图案的解析1数据采集使用X射线衍射仪收集衍射数据。2峰位分析确定衍射峰的位置和强度。3相位识别对比标准图谱，识别物质组成。4结构精修利用Rietveld方法精确确定晶体结构。单晶X射线衍射高质量晶体需要大小适中、完整的单晶样品。旋转晶体样品在X射线束中旋转，收集全空间衍射数据。精确结构可得到精确的三维晶体结构信息。粉末X射线衍射1多晶样品2德拜-谢乐环3相位分析4结构精修粉末衍射适用于多晶材料，可快速进行相位分析和结构研究。晶体结构分析与Miller指数的意义Miller指数定义(hkl)表示晶面，[hkl]表示晶向。晶面间距Miller指数与面间距d有直接关系。结构因子Miller指数用于计算结构因子，预测衍射强度。应用X射线衍射的原理分析金属材料1相组成分析识别金属中的不同相和化合物。2晶粒尺寸测定通过衍射峰宽度估算晶粒大小。3残余应力分析测量金属材料中的内部应力。4织构分析研究金属材料中晶粒的优先取向。应用X射线衍射分析陶瓷材料相纯度分析确定陶瓷材料的纯度和杂质含量。晶体结构研究分析陶瓷材料的晶体结构和对称性。热处理效果研究热处理对陶瓷结构的影响。相变研究观察陶瓷材料在不同条件下的相变行为。应用X射线衍射分析高分子材料1结晶度分析测定高分子材料的结晶度。2取向度研究分析高分子链的取向情况。3相分离现象研究共聚物或混合物的相分离。4热力学行为观察高分子在热处理过程中的结构变化。X射线衍射在新材料开发中的重要性结构表征精确分析新材料的原子结构。性能优化指导材料性能的优化和调控。质量控制保证新材料的生产质量和一致性。X射线衍射分析方法的特点与优势非破坏性样品分析后可重复使用，适合珍贵样品。高精度可精确测定晶体结构参数，分辨率达原子级别。多样性适用于各种固态材料，包括金属、陶瓷、高分子等。实验室X射线衍射仪的基本结构X射线源产生单色X射线。光学系统调节X射线束的方向和强度。样品台精确控制样品位置和角度。探测器收集衍射X射线信号。X射线衍射图谱的获取与分析1样品制备2数据采集3背景扣除4峰位确定5相位识别从样品准备到最终相位识别，每一步都至关重要。X射线衍射相图的应用相变研究研究材料在不同温度压力下的相变行为。合金设计指导新型合金的成分设计和热处理工艺。反应动力学研究化学反应和相转变的动力学过程。精密X射线衍射分析的提高方法长时间采集增加数据统计精度。温度控制消除热噪声影响。真空环境减少空气散射。同步辐射光源提供高亮度、高相干性X射线。X射线衍射在晶体缺陷分析中的作用位错密度通过衍射峰展宽估算位错密度。堆垛层错分析衍射峰的不对称性，研究堆垛层错。点缺陷通过精确测量晶格常数变化，研究点缺陷。应用X射线衍射分析相变和相互作用1原位加热实验研究材料在加热过程中的相变。2高压实验分析材料在高压下的结构变化。3化学反应监测实时观察化学反应过程中的结构演变。4界面相互作用研究多层膜或复合材料的界面结构。X射线衍射在材料取向分析中的应用极图测量测定材料中晶粒的优先取向分布。织构系数定量表征材料的织构程度。取向分布函数全面描述材料的三维取向分布。应用领域在金属、陶瓷、高分子等材料中广泛应用。X射线衍射在薄膜材料分析中的应用薄膜厚度测量利用X射线反射率曲线测定薄膜厚度。界面结构分析研究多层薄膜的界面结构和粗糙度。应力分析测定薄膜中的残余应力和应变。外延关系确定薄膜与基底的外延生长关系。X射线衍射在高压下的应用1金刚石压砧2同步辐射光源