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*当VDSVDsat后,简单的处理方法是从抛物线顶点以水平方向朝右延伸出去。以不同的VGS作为参变量,可得到一组ID~VDS曲线,这就是MOSFET的输出特性曲线。MOSFET的直流电流电压方程第三节第61页,共68页,星期六,2024年,5月*对于P沟道MOSFET,可得类似的结果,式中,以上公式虽然是近似的,但因计算简单,在许多场合得到了广泛的应用。MOSFET的直流电流电压方程第三节第62页,共68页,星期六,2024年,5月*实测表明,当VDSVDsat后,ID随VDS的增大而略有增大,也即MOSFET的增量输出电阻不是无穷大而是一个有限的值。3.3.2饱和区的特性通常采用两个模型来解释ID的增大。MOSFET的直流电流电压方程第三节第63页,共68页,星期六,2024年,5月*当VDSVDsat后,沟道中满足V=VDsat和Qn=0的位置向左移动?L,即:1、有效沟道长度调制效应已知当VDS=VDsat时,V(L)=VDsat,Qn(L)=0。这意味着有效沟道长度缩短了。MOSFET的直流电流电压方程第三节第64页,共68页,星期六,2024年,5月*L0yVDsatV(y)?L①②③图中,曲线①代表VDSVDsat,曲线②代表VDS=VDsat,曲线③代表VDSVDsat而V(L-?L)=VDsat。MOSFET的直流电流电压方程第三节第65页,共68页,星期六,2024年,5月*当VDSVDsat后,可以将VDS分为两部分,其中的VDsat降在有效沟道长度(L-?L)上,超过VDsat的部分(VDS-VDsat)则降落在长度为?L的耗尽区上。根据耗尽区宽度公式可计算出?L为:由于,当L缩短时,ID会增加。MOSFET的直流电流电压方程第三节第66页,共68页,星期六,2024年,5月*若用I’Dsat表示当VDSVDsat后的漏极电流,可得:当L较长或NA较大时,较小,电流的增加不明显,rds较大;反之,则电流的增加较明显,rds较小。MOSFET的直流电流电压方程第三节第67页,共68页,星期六,2024年,5月*对于L较短及NA较小的MOSFET,当VDSVDsat后,耗尽区宽度接近于有效沟道长度,这时从漏区发出的电力线有一部分终止于沟道上,使沟道电子的数量增多,从而导致电流增大。可以把此看作是在漏区与沟道之间存在一个电容CdCT,当VDS增加?VDS时,沟道区的电子电荷面密度的增量为2、漏区静电场对沟道的反馈作用第68页,共68页,星期六,2024年,5月*因此MOSFET的阈电压一般表达式为MOSFET的阈值电压第二节第29页,共68页,星期六,2024年,5月*以下推导QA的表达式。对于均匀掺杂的衬底,式中,,称为体因子。MOSFET的阈值电压第二节第30页,共68页,星期六,2024年,5月*于是可得N沟MOSFET的阈电压为MOSFET的阈值电压第二节第31页,共68页,星期六,2024年,5月*注意上式中,通常VS0,VB0。当VS=0,VB=0时,这与前面得到的MOS结构的阈电压表达式相同。MOSFET的阈值电压第二节第32页,共68页,星期六,2024年,5月*称为N型衬底的费米势。同理,P沟MOSFET的阈电压为式中,?FN与?FP可以统一写为?F
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