材料半球发射率测量仪校准规范.pdfVIP

JJFxxxx-xxxx

目录

引言1

1范围2

2引用文件2

3概述2

4计量特性2

5校准条件3

5.1环境条件3

5.2测量标准及其它设备3

6校准项目和校准方法3

6.1校准项目3

6.1.1基线（100%点）漂移3

6.1.2波数示值误差3

6.1.3发射率重复性3

6.1.4发射率示值误差3

6.2校准方法3

6.2.1校准前的检查3

6.2.2基线漂移4

6.2.3波数示值误差4

6.2.4发射率测量重复性和示值误差4

7校准结果表达5

8复校时间间隔6

III

JJFxxxx-xxxx

附录A7

附录B9

附录C10

IV

JJFxxxx-xxxx

引言

本规范依据JJF1071－2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001《通

用计量术语及定义》、JJF1032－2005《光学辐射计量名词术语及定义》、JJF

1059.1－2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规范制定工作的基

础性系列规范。

本规范为首次发布。

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JJFxxxx-xxxx

材料光谱半球发射率测量仪校准规范

1范围

本规范适用于在室温条件下基于基尔霍夫热辐射定律的采用反射法的材料

光谱半球发射率测量仪的校准。半球反射比测量仪的校准可参照本规范执行。

2引用文件

JJF1319傅立叶变换红外光谱仪校准规范

JJF1750红外标准滤光器校准规范

JJG681色散型红外分光光度计检定规程

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规则；凡是不注日期的引

用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本规则。

3概述

材料光谱半球发射率测量仪是测量材料光谱半球发射率的仪器。材料光谱半

球发射率测量仪主要用于评估材料吸收，辐射特性。

通常基于基尔霍夫热辐射定律，采用反射法测量材料在室温条件下的半球发

射率。材料光谱光谱半球发射率测量仪主要由光源、分光系统、积分球样品室和

探测系统四大部分构成。光源发出的光辐射经过分光系统在样品室入射到被测样

品表面，探测系统收集来自样品有效信号，经数据处理得到材料的发射率。

常用的材料光谱半球发射率测量仪从实现方法分为傅立叶变换型和光栅分

光型两种。

4计量特性

4.1基线（100%点）漂移：不超过0.02；

4.2波数示值误差：针对傅立叶变换型设备，参照JJF1319中5的规定，在大于

-1-1-1-1

2000cm处不超过5cm，在小于2000cm处不超过1cm。针对光栅分光型设备，

参照JJG681中2.5的规定，波数示值误差在大于2000cm-1处，不超过8cm-1，在小

于2000cm-1，不超过4cm-1；

4.3发射率测量重复性：不超过0.02；

4.4发射率示值误差：不超过0.04；

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